波长色散x射线荧光分析解析的新发展资料.pdfVIP

波长色散X 射线荧光分析的新发展 岛津(香港)有限公司北京代表处 电话：010 邮编：100020 摘要：论述了波长色散X 射线荧光分析装置的发展状况。除了继续 发展其在高含量、常量和微量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点 之外，在进一步提高灵敏度，使分析范围扩展到痕量分析范围；开拓微 区面分布的元素成像分析；进一步对传统分析困难的轻元素和中重金属 元素的探讨，开发新的高级次谱线分析方法；适应新材料特别是纳米材 料的分析要求，对薄膜分析的开拓等方面，已经有了长足的发展。本文 介绍在商品化的分析装置方面的发展状况。同时本文引入对无标样分析 的基本参数法（FP 法）目前发展状况的介绍。 关键词：波长色散X 射线荧光分析，微区面分布的元素成像分析， 高级次谱线分析方法，薄膜分析，无标样分析的基本参数法。 第 1 页 Development of Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Analysis Shimadzu (Hong Kong) Ltd., Beijing Office. Tel: +86-10 ZIP: 100020 Abstract: In this paper, discussed the development situation of wavelength dispersive X-ray fluorescence (WD-XRF) analysis. Except the WD-XRF develops continuously the feature of high precision and stability for normal and micro contents element, it had been expand its analytical range to trace element. To overcome the weak points of light and middle-heavy elemental analysis, it has researched the newest high order spectrum analysis method. Developed the micro-area elemental distribution image analysis. To suited new material and nanometer scale especially, thin film analysis has been progress in the commercial equipment and apparatus. Meanwhile, this paper has brief introduced the developing situation of the Fundamental Parameter (FP) method which quantitative analysis without standard samples. Keyword: Wavelength dispersive X-ray fluorescence (WD-XRF); Micro-area elemental distribution image analysis (image-XRF, iXRF); High order spectrum analysis method; Thin film analysis; Fundamental Parameter (FP) method which quantitative analysis without standard samples. 第 2 页 在新的世纪，分析仪器为了适应新的科学研究领域的要求，在不断 地进一步发展。波长色散X 射线荧光分析除了继续保持和发展其在高含 量、常量和微量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外，在进一 步提高灵敏度，使元素分析范围扩展到痕量领域；开拓微区面分布的元 素成像分析；进一步对传统分析困难的轻元素和中重金