超声波探伤试验与实做要求2011.ppt

一、仪器性能、探头性能和仪器探头组合性能的测试 1、仪器水平线性的测试 。 2、垂直线性及动态范围测试。 3、分辨力的测试。 4、探伤盲区测试。 5、灵敏度余量测试。 6、信噪比的测试。 7、始波宽度的测试。 1、仪器水平线性的测试 。 基本概念： 水平线性也称为时基线性或扫描线性，是时基线水平刻度值与实际声程成正比关系的程度。也就是说，扫描线上显示的反射波距离与反射体距离成正比的关系。或者说是探伤仪水平扫描速度的均匀程度。 因此，水平扫描线（时间基线）的非线性会引起定位误差。 抑制：---作用是抑制荧光屏上幅度较低或认为不必要的杂乱反射波，使之不予显示。从而使荧光屏显示的波形清晰。 延迟旋钮：---或称脉冲移位（水平旋钮）；作用是调节开始发射脉冲时刻与开始扫描时刻之间的时间差。调节延迟可以使扫描线上的回波位置大幅度左右移动而不改变回波之间的距离。所以可调节延迟旋钮进行零位校正。 实验目的： 1、熟练掌握探伤仪器各旋钮的功能作用及正确操作。 2、掌握仪器水平线性的测试方法。 注意事项：水平线性测试应在探伤仪各个档上分别进行，测试时使用探伤面与底面平行且表面光滑的任何试块，试块的厚度原则上相当于探测声程的1/5，采用任意的常用探头。探伤仪的抑制置于“0”或“断”，其它调整取适当值。 实验步骤： JB/T9214-1999《A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能 测试方法》 1、抑制置“0”或 “关”，其它旋钮置合适位置。 2、将探头置于CSK-IA试块25㎜厚表面上，中间加适当的耦合剂，保持稳定的声耦合。调节探伤仪的增益和扫描范围（粗调和细调），使荧光屏上显示出第6次底波。 3、当底波B1和B6的幅度分别为50%满刻度时，将他们的前沿分别对准刻度0和100（设水平全刻度为100格），由于B1和B6的前沿位置在调整中相互影响，则应反复进行调整直至调好。 4、再依次分别地将B2、B3、B4、B5底波调到50%满刻度，并分别读出各底波的前沿与刻度20、40、60、80的偏差值（以格数计）填入表中。 注意：B1-B6这六个底波是分别调到同一幅度，即50%满刻度高度，而不是同时达到此幅度。 注意：此为模拟仪器做法，数字仪器自动调校按25,125即B1B5完毕，看B2，B3，B4误差即可。 5、然后取其中最大的偏差值amax ，则水平线性误差为△L=∣amax∣ %（标准规定△L≤2%），或水平线性误差为△L=∣amax∣/B×100 % 实验结果：△L=？ 表：水平线性测量纪录 2、垂直线性（动态范围）测试方法 （JB/T10061-1999标准规定垂直线性误差≤8%）： 为了检测超声波探伤仪增益线性和衰减器精度两者的综合效果。对于根据回波幅度评定缺陷大小时具有重要意义。仪器的垂直线性的准确测定需用外接设备。本实验只是对仪器的放大线性做一般的评定。 垂直线性也称为放大线性，是荧光屏上的波高与输入信号幅度成正比的程度，主要取决于放大器的性能。垂直线性的好坏直接影响对缺陷的定量精度,引起定量误差。 接收电路包括：高频放大器、衰减器、检波电路及视频放大器。 实验器具： 1、A型探伤仪； 2、直探头； 3、试块DB-P Z20-2（相当于CS-1-5）或Z20-4试块 实验步骤： 1、“抑制”置零，调节仪器其它旋钮置合适位置。 2、探头至于试块CS-1-5上，中间加适当的耦合剂，保持稳定的声耦合，移动探头，找出Φ2平底孔回波并置于荧光屏满刻度的中间位置上。 3、调节仪器（增益、衰减器）使其波幅高度达到100%满刻度，此时衰减器至少应有30dB衰减余量。记录分贝数值N1。 4、以每次衰减2Db的增量调节衰减器，每次记下满刻度的回波幅度百分值，直至衰减值为26分贝，观察其波高变化，将测试结果填入表中，计算相对偏差值（测试值与波高理论值之差为偏差值）。 5、计算垂直线性偏差，即：从表中取最大正偏差d（＋）和最大负偏差d（－）的绝对值之和。 △d=∣d（＋）∣＋∣d（－）∣（%） 6、继续衰减到30分贝，判定是否能清楚的确认回波的存在，观察回波即将消失前，记录此时的分贝数值N2。仪器探伤系统的动态范围即为△=N2-N1。 （标准规定动态范围⊿≥26 dB） 注意：衰减器是用来调节探伤灵敏度和测量回波振幅。衰减读数大，灵敏度低，回波振幅高； 表：垂直线性测试纪录（利用公式⊿=20㏒L理/L总 计算波高理论值填入表中，⊿取负值） 计算波高理论值：△=20㏒（L理/L总）；L理—衰减A分贝时相应理论波高，L总-垂直刻度的100%波高。 3、分辨力的测定 测试探伤仪和探头性能时，要把仪器和探头