片状钽电容器失效分析.PDF

第3 期 电 子 元 件 与 材 料 Vol.23 No.3 2004 年3 月 ELECTRONIC COMPONENTS MATERIALS Mar . 2004 阻 容 元 件 片 状 钽 电 容 器 失 效 分 析 刘家欣 肖大雏 王宾如 武汉大学自动化系 湖北 武汉 430072 摘要:针对钽电容在实际使用中失效率过高的问题 从电路设计和制造工艺两个方面分析导致钽电容器失效的原 因 并根据分析的结果给出相应的预防钽电容器失效的具体措施 关键词:钽电容器 缓启动 ICT FT 浪涌 + 中图分类号: TM535 .1 文献标识码:A 文章编号:1001-2028 2004 03-0003-04 Failure Analysis of Tantalum Capacitors LIU Jia-xin, XIAO Da-chu, WANG Bin-ru (Department of automation, Wuhan University, Wuhan 430072, China) Abstract: In order to discussing the problem of failure rate for tantalum capacitors, the failing reasons of tantalum capacitors were analyzed from production and circuit design. Then several suggestions for preventing the failure of tantalum capacitors are given. Key words: tantalum capacitors ; delay startup; ICT; FT; surge 在电源和信号滤波电路中 铝电容器和钽电容器 笔者分析了钽电容器失效的原因 并给出相应的预防 使用较多 铝电容器的缺点在于 随着使用年限的增 失效建议 加 它会快速呈 干涸 趋势 最终失去电容能力 1 钽电容器失效现象 此外 铝电解电容器的准确度不高 易受高温的影响 而钽电容器有效地解决了这些问题 那么采用钽电容 早期的钽电容器失效主要是由两个因素造成的 器的电路会不会比采用铝电解电容器的好呢 回答是 最明显的是由于极性接反引起的击穿失效 这种失效 肯定的 但不是在性能上 而是在稳定性和适应性方 多在研发阶段由于设计和测试不当引起的 所以禁止 面 钽电容器最大的优点是对环境变化反应较 迟 使用万用表电阻档对钽电容器电路或其本身进行不分 钝 而铝电解电容器在一些比较极端的环境下 例 极性的电阻测试 另外一种较为隐蔽的失效通常在实 如长期工作在高温或低温下 可能会容量变小 失效 际工作时出现 其原因是由于焊接温度过高 焊接持 和滤波性能变差等 而且这些变化具有不可恢复性 续时间过长 导致钽电容器内钽丝与阳极引线熔焊的 即使环境恢复正常 铝电解电容器也不能恢复到原来 焊锡受热流出 形成多余物 造成短路失效 随着钽 的容量 而钽电容器却具有良好的 自愈 特性 电容器的贴片化和工艺水平的提高 这种失效已经可 近年来 单板元器件密度越来越高 单板对元器 以控制并消除 同时更为深层次的失效原因也开始暴 件的小型化 表贴化要求也越来越