通用嵌入式测控系统开发平台研究.PDF

第 卷第 期 中国测试技术 34 2 Vol.34 No.2 年 月 2008 3 CHINAMEASUREMENTTESTINGTECHNOLOGY Mar.2008 通用嵌入式测控系统开发平台研究 唐 华,毛 磊,何仁伦 (中国西南电子设备研究所,四川 成都 ) 610036 摘 要:针对目前工业控制领域应用的嵌入式测控产品大多存在技术落后、通用性差的问题,提出基于 和 ARM DSP 的通用嵌入式测控系统开发平台,将DSP的强大运算能力和新型单片机ARM处理器的强大控制能力结合在一起, 能满足大多数中低速嵌入式测控系统的应用要求,由于其良好的通用性,在多个项目应用中均取得了较好的效果。 关键词:测控系统; ; ; ; ARMDSPCANUSB 中图分类号: + ; 文献标识码: 文章编号: ( ) TP273.5TP311.52 A 1672-4984200802-0040-04 Embeddedsystem developmentkitfortestingandcontrollingbasedonARM andDSP , , TANGHua MAOLeiHERen-lun ( , , ) SouthwestChinaResearchInstituteofElectronicEquipmentChendu610036China Abstract:Atpresent,mostembeddedproductsfortestingandcontrollingappliedintheindustryarenotadvanced anduniversalenough.Theembeddedsystem developmentkitfortestingandcontrollingbasedonARM andDSP waspresentedinthispaper.Thisdevelopmentkitcombinedthehigh-speedcomputationalcapabilityofDSPwith thestrongcontrollingcapabilityofARM,whichcouldfulfillmostapplicationrequirementsofmiddleorlowspeed embeddedsystem fortestingandcontrolling.Withitsgoodcapability,thisdevelopmentkithasbeenappliedin severalprojectssuccessfully. Keywords:Testingandcontrollingsystem;ARM;DSP;CAN;USB 1 引 言 此具有强大得多的控制功能。相对于通用微处理器, 近年来,随着微电子技术、计算机技术、通信及 DSP芯片为了适应数字信号处理的需要,在内核结 构上进行了优化,具有高速运算能力。然而, 强 网络技术的迅速发展,嵌入式系统已经广泛地渗透