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第八章 表面分析法新.ppt

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第八章 表面分析法新

* * * * * * * 3. 扫描隧道显微镜 1982年,IBM(国际商业机器)公司苏黎世实验室的葛·宾尼(Gerd Binnig)博士和海·罗雷尔(Heinrich Rohrer)博士及其同事们共同研制成功了世界第一台新型的表面分析仪器——扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope,简称STM)。 使人类第一次能够实时地观察单个原子在物质表面的排列状态和与表面电子行为有关的物理、化学性质。 在表面科学、材料科学、生命科学等领域的研究中有着重大的意义和广阔的前景,被国际科学界公认为二十世纪八十年代世界十大科技成就之一。 1986年,STM的发明者宾尼和罗雷尔被授予诺贝尔物理学奖。 显微镜类 型 分辨本领 工作条件 工作温度 样品损伤 分析深度 人眼 0.2mm 光学显微镜 0.2?m SEM(二次电子) 横向:6nm 高真空 低温、室温、高温 轻微损伤 1?m 纵向:较低 TEM 横向:点3~5 ?,线1~2 ? 高真空 低温、室温、高温 中等程度损伤 1000 ? (样品厚度) 纵向:很差 STM 横向:1 ? 空气、溶液、真空 低温、室温、高温 无损伤 1~2个原子层 纵向:0.1 ? 具有原子级高分辨率。 可实时地得到在实空间中表面的三维图象。 可观察单个原子层的局部表面结构。 可在真空、大气、常温等不同环境下工作,甚至可将样品浸在溶液中,并且探测过程对样品无损伤。 配合扫描隧道谱STS(Scanning Tunneling Spectroscopy)可以得到有关表面电子结构的信息。 STM的优点 基本原理 STM的理论基础是隧道效应。对于一种金属-绝缘体-金属(MIM)结构,当绝缘层足够薄时,就可以发生隧道效应。 扫描隧道显微镜是将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电极,当样品与针尖的距离非常接近时(通常小于 1 nm),在外加电场的作用下,电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极,形成隧道电流。隧道电流I是电极距和所包含的电子态的函数。 对于经典物理学来说,当一粒子的动能E低于前方势垒的高度V0时,它不可能越过此势垒,即透射系数等于零,粒子将完全被弹回。而按照量子力学的计算,在一般情况下,其透射系数不等于零,也就是说,粒子可以穿过比它的能量更高的势垒,这个现象称为隧道效应。 隧道效应 根据量子力学的波动理论,粒子穿过势垒的透射系数 由式中可见,透射系数T与势垒宽度a、能量差(V0-E)以及粒子的质量m有着很敏感的依赖关系,随着a的增加,T将指数衰减。 由前式可知,隧道电流强度对针尖和样品之间的距离有着指数的依赖关系,当距离减小 0.1nm,隧道电流即增加约一个数量级。 因此,根据隧道电流的变化,我们可以得到样品表面微小的高低起伏变化的信息。 式中Vb是加在针尖和样品之间的偏置电压,S为样品与针尖的距离,Φ是平均功函数,A为常数,在真空条件下约等于 1. 应用 STM实验可以在大气、真空、溶液、惰性气体甚至反应性气体等各种环境中进行,工作温度可以从热力学零度到摄氏几百度。 STM的用途非常广泛,可用于原子级空间分辨的表面结构观测,用于各种表面物理化学过程和生物体系研究;STM还是纳米结构加工的有力工具,可用于制备纳米尺度的超微结构;还可用于操纵原子和分子等。 STM是一种无损分析方法,目前它的横向分辨率已达到0.1nm,垂直分辨率已达到0.01nm。 用STM移动氙原子排出的“IBM”图案 4. 原子力显微镜 原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是利用一个对力敏感的探针探测针尖与样品之间的相互作用力来实现表面成像。 使用一个一端固定而另一端装有针尖的弹性微悬臂来检测样品表面形貌的。当样品在针尖下面扫描时,同距离有关的针尖-样品相互作用力(既可能是吸引的,也可能是排斥的),就会引起微悬臂的形变,也就是说,微悬臂的形变是对样品-针尖相互作用的直接测量; AFM的主要功能同STM一样。一般而言,STM适于研究导体样品,而难于研究绝缘样品,由此发展起来的AFM克服了STM的局限性,对导体和非导体样品都适用; 由于工作原理和仪器结构不同,AFM分辨本领要略低于STM,且灵敏度和稳定性均不如STM。 原子力显微镜AFM的优缺点 相对于扫描电子显微镜,原子力显微镜具有许多优点。不同于电子显微镜只能提供二维图像,AFM提供真正的三维表面图。同时,AFM不需要对样品的任何特殊处理,如镀铜或碳,这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三,电子显微镜需要运行在高真空条件下,原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子,甚至活

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