第三章 原子发光谱法Atomic Emission Spectrometry (AES).pptVIP

原子发射光谱分析对单色器的要求是： 1、色散率大且与波长无关； 2、分辨率大（能分开Fe三线0.03nm）； 3、集光本领强（使分析所需的波长的能 量达到最大） 目前常用中阶梯光栅光谱仪 三、检测器 摄谱仪 多道 光谱仪 单道 扫描仪 全谱 直读仪 感光板 PMT PMT CCD 1、感光板 感光层（AgX） 玻璃层 感光板用于作为检测器的原理： 感光板将谱线的强度变为黑度S S = lg i0 i i0 感光乳剂未暴光部分的透射光强度 i 暴光变黑部分的透射光强度 S与曝光量H的关系可由实验得出 S logH S0 logH0 暴光不足 暴光过度 暴光正常 曝光量正常情况下： S = ? （logH - log H0） ? 称为感光板的反衬度，表示感光板对光信号的敏感程度。 ?与波长有关，但在250-350nm范围内几乎不变。 由于曝光量H与照度E呈正比：H = Et，而照度E又与原子的辐射强度 I 呈正比，故黑度S可以表征原子的辐射强度 因此，乳剂特性曲线可由下列参数绘出 S ~ log I 乳剂特性曲线的绘制方法： 谱线组法(p. 143) 阶梯减光板法 旋转扇形板法 I1 I2 I3 I4 S1 S2 S3 S4 S lg I I为阶梯减光板透过光强度 阶梯减光板法 摄谱法的主要优点是： 1、仪器简单 2、适于较宽的波长范围（一次可分析70多个元素） 摄谱法的主要缺点是： 1、操作麻烦（摄谱、冲洗、读谱、测黑度） 2、定量误差较大 发展了光电直读法 光谱范围 打拿极数 工作电压 2. 光电倍增管 光电倍增管的外壳由玻璃或石英制成，内部抽真空，阴极涂有能发射电子的光敏物质，如Sb-Cs或Ag-O-Cs等，在阴极C和阳极A间装有一系列次级电子发射极，即电子倍增极D1、D2 … 等。阴极C和阳极A之间加有约1000V的直流电压，当辐射光子撞击光阴极C时发射光电子，该光电子被电场加速落在第一被增极D1上，撞击出更多的二次电子，依次类推，阳极最后收集到的电子数将是阴极发出的电子数的105-108倍。 光电倍增管的特性用以下参数表征： 1）暗电流和线性响应范围 在入射光的光谱成分不变时，光电倍增管的光电流强度i与入射光强度Ii成正比：即 i = kIi + i0 式中，Ii为对应于该电流的入射光强度，k为比例系数，i0为暗电流。暗电流指入射光强度为零时的输出电流，它由热电子发射及漏电流引起。因此，降低温度及降低电压都能降低暗电流。光电元件的暗电流愈小，质量就愈好。 2） 噪声和信噪比 在入射光强度不变的情况下，光电流也会引起波动。这种波动会给光谱测量带来噪声。光电倍增管输出信号与噪声的比值，称为信噪比。信噪比决定入射光强度测量的最低极限，即决定待测元素的检出限。只有将噪声减小，才能有效地提高信噪比，降低元素的检出限。 3）灵敏度和工作光谱区 在入射光通量为1个单位（流明）时，输出光电流强度的数值，称为光电倍增管的灵敏度。若用公式表示，灵敏度为 式中，i为输出光电流强度，F为入射光通量。光电倍增管的灵敏度随入射光的波长而变化。这种灵敏度，称为光谱灵敏度。 4）工作电压和工作温度 在入射光强度不变的情况下，光电倍增管供电电压的变化会影响光电流的强度。因此，必须采用稳压电源供电，工作电压的波动不许超过0.05%。当电压升高到一定值后，光电倍增管即产生自发放电。这种自发放电会使光电元件受到损坏。因此，工作时不许超过光电倍增管允许的最高电压。此外，工作环境的温度变化也会影响光电流的强度。因此，光电倍增管必须在温度波动不大的环境中工作，特别不能在高温的环境中工作。 5）疲劳和老化 入射光强度较大或照射时间较长，会引起光电流的衰减。这种现象称为疲劳现象。疲劳后在黑暗中经过一些时间可以恢复灵敏度的，称为可逆疲劳。疲劳后无法恢复灵敏度的，称为不可逆疲劳或老化。在正常情况下，老化过程是进行得很慢的。如果入射光较强，产生超过1mA的光电流，光电倍增管就可能因老化而损坏。 2.1 多道光谱仪检测系统 光源 单色器 PMT 读谱速度快 只可同时分析十余种元素 光栅 狭缝 反射镜 2.2 单道扫描光谱仪检测系统 可多元素同时分析 读谱速度慢 3、CCD检测器 （Charge-Coupled Devices, 中文译名是电荷耦合器件 ） CCD是一种新型固体成像器件，它是在大规模硅集成电路工艺基础上研制而成的模拟集成电路芯片，借助必要的光学和电路系统，它可以将景物图象通过输入面空域上逐点的光电信号转换、储存和传输，在其输出端产生一视频信号，并经末端显示器同步显示出人眼可见的图象。 在原子发射光谱中采用CCD的主要优点是：