拱形法中收发天线杂散耦合对测试结果的影响.pdf

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2019-02-04 发布于天津
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拱形法中收发天线杂散耦合对测试结果的影响

年月宇航计测技术， !# ! )*+ , !# 第卷第期 -./0123 .4 5670.12/789 :*70.3.; 21= :*26/0**17 ， !# % ?.3 ,!# @. , % !!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!! 文章编号：（）中图分类号： D 文献标识码： % ( ’!! !# % ( AA ( # B@C!% , A 5 拱形法中收发天线杂散耦合对测试结果的影响郭权国蒋全兴（东南大学电磁兼容研究室，南京!%E ）摘要针对% F # GHI 频段，从收发天线之间的杂散耦合分析入手，对射频吸波材料拱形法测试系统的具体测试方法进行了研究。按照电磁波入射角和极化方式的差异，测量具体吸波材料在不同距离上反射系数的起伏，探讨了该系统测量误差的成因。 D 关键词 D 拱形法射频吸波材料喇叭天线极化 !#$% ’()*+#* ,-./(01 2#%3##0 4*50)6(% 50+ 7#$#(8# 90%#005) 0 %:# 4#)%#+ 7#)-/%) GJK L/21 ( ;/. -M5@G L/21 ( N81; （，，） O:P 32+ Q./7R*267 J18S*0687 @21T81; !%E 9;)%*5$% 5 =*7283*= 7*67 *7R.= .4 7R* 209R 7*67 667* 4.0 U) 2+6.0+81; 27*08236 86 V0*6*17*= 40. % ， GHI 7. #GHI WR89R +*;816 W87R 7R* 2123686 .4 7R* =86.0=*0 9./V381; +*7W**1 7021687 21= 0*9*8S* 217*1126 , BR* 8198=*17 21;3*，， V.3208I278.1 21= =867219* +*7W**1 2+6.0+*06 21= 217*1126 20* 9R21;*= 21= 7R* 0*43*978.1 ， 9.*44898*17 86 *26/0*= , )/07R*0.0* 7R* 92/6* .4 667* *00.0 86 =869/66*= , #= 3*+) D 509R *7R.= U2=8. 40*X/*19 2+6.0+81; 27*08236 D H.01 217*112 Y.3208I278.1 引言步的检验，所以在射频吸波材料性能测试中得到广