《SJT11212-1999-石英晶体元件参数的测量第6部分激励电平相关性(DLD)的测量》.pdfVIP

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《SJT11212-1999-石英晶体元件参数的测量第6部分激励电平相关性(DLD)的测量》.pdf

SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T 11212一1999 idt IEC444-6: 1995 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平 相关性 (DLD)的测量 Measurement of quartz crystal unit paramenters一 Part6 : Measurement of drive level dependence (DLD 1999一0s一26发布 1999一12一01实施 中华人民共和国信息产业部 发布 目 次 前 言 IEC前言 IEC序言 1总则·······

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