原子吸收光谱法 AAS and AFS.pptVIP

二、仪器 原子荧光光度计分为非色散型和色散型。这两类仪器的结构基本相似，只是单色器不同。 原子荧光光度计与原子吸收光度计在很多组件上是相同的。如原子化器（火焰和石墨炉）；用切光器及交流放大器来消除原子化器中直流发射信号的干扰；检测器为光电倍增管等。 光源 也可以是连续光源如高压Xe弧灯 原子化器 反光镜 单色器 检测器 原子荧光光度计与原子吸收光度计的主要区别： 1.光源 需要采用强光源。商品仪器中多采用高强度空心阴极灯、无极放电灯两种。 （1）高强度空心阴极灯 高强度空心阴极灯特点是在普通空极阴极灯中，加上一对辅助电极。辅助电极的作用是产生第二次放电，从而大大提高金属元素的共振线强度（对其它谱线的强度增加不大）。 （2）无极放电灯 无极放电灯比高强度空心阴极灯的亮度高，自吸小寿命长。特别适用于在短波区内有共振线的易挥发元素的测定。 消除背景吸收的几种办法: ①用与试样有相似组成的标液来校正 ②分离基体 ③用邻近非吸收线校正背景 用分析线测量原子吸收与背景吸收，用邻近非吸收线测量背景吸收，相减。此法要求两线的波长相近（10nm时就不能使用），因背景吸收随波长而变。例如Ni的测定，共振线为232.0nm，非吸收线231.6nm。非吸收线可来自同一灯的发射线，也可用另一灯的发射线。 ④用背景校正器 A.氘灯背景校正 旋转斩光器交替使空心阴极灯提供的共振线和氘灯提供的连续光谱（190∽350nm）通过火焰。 连续光谱通过时：测定的为背景吸收（此时的共振线吸收相对于总吸收可忽略）； 共振线通过时：测定总吸收； 差值为有效吸收。 不足：氘灯测的是整个通带内的平均背景，与分析线处的真实背景有差异，校正有可能过度或不足，且有波段限制，两灯光束在原子化器中严格重迭才能使两光源测得的背景一致。 B.塞曼（Zeeman）效应背景校正 塞曼效应是指在强磁场中（光源发射线或）吸收线发生分裂的现象。一条谱线分裂为三条（均为偏振光），一条叫π线，平行于磁场方向，中心线与原吸收线波长相同，另两条叫σ+ 、σ- 线，垂直于磁场方向，波长偏离原吸收线波长。 光源发射线通过起偏器后变为偏振光，随着起偏器的旋转，某一时刻有平行于磁场方向的偏振光通过原子化器，吸收线π和背景均产生吸收，测得原子吸收和背景吸收的总和。在另一时刻有垂直于磁场的偏振光通过原子化器，不产生原子吸收，测得的只是中心波长处背景的吸光度，两次吸光度之差，便校正了背景吸收。 优点：可在全波段范围内进行；可校正较高吸光度（高达1.5~2.0）的背景，校正准确度较高，比氘灯校正优越得多。 C.用自吸效应校正背景 特点：校正范围大（紫外区和可见光区）；校正能力强(能扣除背景吸收值达2.0以上)；仪器结构简单；影响空心阴极灯的寿命。 原理：利用空心阴极灯在大电流时将产生自吸收这一效应，使灯的供电方式改为两种：一种是大电流的背景电流(几十毫安)，这时测得的吸光度值为背景吸收值；另一种是小电流的信号电流(几毫安)，这时的吸光度值为背景吸收和被测元素吸收之和。若调节两种电流的入射光强相等，则在两种电流下测得吸光度之差即与被测元素的含量成线性关系。 二、物理干扰（基体效应） 物理干扰是指试样的物理性质改变（溶液的粘 度、表面张力、溶剂蒸气压等）所引起的干扰。 主要影响试样喷入火焰速度、雾化效率、雾滴大 小、溶剂的蒸发速度等，从而影响基态原子数。大 量基体元素的存在，总含盐量的增加，在火焰中蒸 发和离解时，必然要消耗大量热量，使火焰温度发 生变化，因而也会影响原子化效率，影响结果。 消除的办法是: ①配制相似组成的标液 ②使用标准加入法 ③如待测元素含量不太低，稀释试液。 三、电离干扰 电离干扰是指待测元素的原子发生了电离反 应，使基态原子数减少，吸收强度减弱。这种干 扰多发生在易电离（电离电位≤6ev）的元素如 碱金属、碱土金属的测定中，温度越高，干扰越 严重。 消除的办法： ①控制温度 ②加消电离剂 加入较大量的更易电离元素的盐，如CsCl等。 四、化学干扰 化学干扰是指待测元素与其它组分发生了化学反应所引起的干扰效应。 典型的化学干扰是待测元素与共存组分作用生成稳定难挥发的化合物，致使参与吸收的基态原子数减少。有些元素（Al、Si、B、Ti）在火焰中易生成难离解的氧化物，使这些元素很难完全从化合物中解离出来，这也是常见的化学干扰。这种形成稳定化合物而引起干扰（原子化效率降低）的大小，在很大程度上取决于火焰温度，使用高温火焰可降低这种干扰。 消除的办法： ①加释放剂—与干扰元素生成更稳定化合物使待测元素释放出来。 例：锶和镧可