1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 电子工程/通信技术
  5. 电子设计

原位退火温度对Mg2Si薄膜结构及方块电阻的影响.pdfVIP

  • 10
  • 0
  • 约3.74万字
  • 约 5页
  • 2019-02-04 发布于天津
  • 举报

原位退火温度对Mg2Si薄膜结构及方块电阻的影响.pdf

    原位退火温度对Mg2Si薄膜结构及方块电阻的影响

    低 温 物 理 学 报 , 　 　 　 　 　 第 卷 第 期 Vol．３９No．５ ３９ ５ 年 月 Oct２０１７ ２０１７ １０ CHINESEJOURNALOFLOW TEMPERATUREPHYSICS 原位退火温度对M Si薄膜结构及方块电阻的影响∗ ２ g , 马新宇１ 陈 茜１† 廖杨芳１２ 肖清泉１ 陈 庆１ 姚紫祎１ 谢 泉１ 　　 　 　　 　　 　　 　 　　

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >