球铁标样的均匀性研究.PDF

新 应 球铁标样的均匀性研究 用 杨德辉 福建省测试技术研究所 ( 福州350003 ) N e w A p p 方法 ： l i c a X- 荧光能谱法, 测定每份样品中 Al, Si 和 Fe 的含量研 t i o 究其均匀性。 n 仪器: A RL QUA NT X 型 X- 射线荧光能谱仪 ’ 仪器特点 ： A RL QUA NT X 型 X- 射线荧光能谱仪是一种高性能的多 ’ 元素同时分析系统。 元素分析范围： Na-U, 可满足多种样品类型，如固体，液体，块状，薄 膜等。测量的浓度动态范围从ppm-100%。可适合多基体， 校正曲线 ： 多元素同时分析。8 位滤光片可满足设置多种分析条件， 元素 己知值% 测得值% 偏差% 优化分析方法。仪器采用超大晶体的Si(Li) 检测器，针对 A L 0.42 0.43 0.01 痕量元素具有超高探测灵敏度。用户可根据环境情况，选 0.44 0.44 0.00 择电制冷方式和液氮制冷方式探测器。优化输出的数字脉 0.60 0.58 -0.02 冲处理器，与用户友好的界面互动，极低的运行和维护费用。 0.65 0.67 0.02 0.75 0.75 0.00 采谱条件 ： 8KV ，0.66mA ，无滤片，真空，中通量，10kev ，200 秒。 Si 1.16 1.24 0.08 1.29 1.25 -0.04 标准样品 ： 2.72 2.56 -0.15 北京海信标准材料研究所(YSB 35) ，一套7 种，每种 3.14 3.29 0.15 10 份，200 目粉末。 4.50 4.47 0.03 样品制备: Fe 91.00 90.40 -0.60