利用双光子光电导探测器测量微微秒光脉冲.PDF

交界处。我们认为破坏之所以发生在交界处 总之，递变折射率增透表面研究样品的 是由以下原因造成大的吸收系数的缘故: (1) 1 毫微秒的平均破坏阔值为 12 焦耳/厘米2 而且某些样品经得起20 ，， 50 焦耳/厘米2 的 在基体表面磨光时杂质加入基体中j (2) 剩余 的清洗剂j (3) 不是经化学计算确定的涂层物 能量密度辐照而没有致命性破坏。相比之下， 商品薄膜增透涂层的平均破坏阔值仅为 5 质。吸收引起破坏的原因是加热少量材料至 焦耳/厘米2。我们确信，递变折射率表面具有 熔化或热应力破坏点。递变折射率表面之所 的耐久性、透过及散射特性允许将相分离玻 以具有高的破坏阔值，大概与没有这种高度 璃作为可见与近红外激光传输的光学元件。 污染的交界区域和(或者)因酸腐蚀除去杂质 有关。有人报导了无涂层的磨光玻璃表面由 译自 W. H. Lowdermilk , D. Milam; Appl. Phys. 于酸腐蚀而使破坏阔值得到类似的改进，尽 L ett ., 1980 (Jun) , 36, No. 11, 891-893. 管这些结果还未成功地加以重复。 学步译步翔拉 利用双光子光电导探测器测量微微秒光脉冲 研制了一种光探测器，它能测量锁模铁玻璃激光器微微秒光脉冲的脉冲宽度。 探测器由七段空间上分立的 OdS . SeO. 5 晶体构成，当用1.06 微米的光辐射照射时， O 5 这些晶体呈现出双光子电导性。将七路峰值检波器及显示系统与双光子探测器一起 连用，以单次发射为基础来记录微微秒脉冲。 对所使用的激光器，测得的相关曲线给 出 脉冲宽度为 10 微微秒，对比率为 2.8:1。 量 10.6 微米亚毫微秒脉冲以来，已报导了利 百l 用毫微秒或微微秒激光脉冲激发时，在半导 亚毫微秒至亚微微秒波段的超短脉冲的 体中容易观察到的双光于和三光子光电导效 应[16， 17l 。所以，这些效应恰似常见的 TPF 技 探测和瞬间分辨率，在超短脉冲技术中是主 要感兴趣的方面。目前的光电探测器和实时 术一样，可以用来测量超短脉冲。这两种技 示波器分辨率被限制到 70 微微秒口，210 超快 术之间的主要不同在于探测方法。在TPF 扫描照相机有 1，， 5 微微秒的分辨率[3-飞但 方法中，来自染料的荧光信号被测量。而在 它们的高成本使大多数! 实验室几乎买不起。 双光子电导(TPO) 或三光子电导方法中，来 双光子荧光(TPF)[8l 和阶梯技术阳只有当 自偏置半导体的光电导信号被测量。其