第3章节元器件的失效物理模型(前言)3-1随时间退化的失资料.pdf

第3 章 元器件的失效物理模型 (前言) 3-1 随时间退化的失效模型 3-1-1 基于激活能的模型 3-1-1-1 阿列尼乌兹和艾林的模型 3-1-1-1-1 阿列尼乌兹模型 3-1-1-1-2 艾林模型 3-1-1-2 温湿度条件下非密封器件的寿命模型 3-1-1-2-1 Peck 的模型 3-1-1-2-2 Shirley 的模型 3-1-1-2-3 其它的模型 3-1-1-3 电迁移模型 3-1-1-3-1 质量迁移的离子流方程 3-1-1-3-2 Black 的模型 3-1-1-3-3 直流条件下的通用寿命模型 3-1-1-3-4 交流条件下的模型 3-1-1-4 随时间退化的电解质击穿模型 3-1-1-4-1///Ref.43 3-1-1-4-2 E 模型 3-1-1-4-3 1/E 模型 3-1-1-4-4 其它模型 3-1-1-5 金属的腐蚀模型 3-1-1-6Mobile ions/污染 3-1-1-7Negative Bias Temp Instability (NBTI) 3-1-1-8CFF 模型 3-1-1-9IMC 增长的模型 第3 章 元器件的失效物理模型 正如在前面章节中所已经描述的那样，失效物理模型给出了一个产品失效的数量关系。 它包含了失效模型和失效判据两个部分。其中，失效模型量化地描述了产品失效的应力、性 能、强度或是寿命随载荷以及时间变化的一个确定的过程或关系，而失效判据在数量上定义 了失效发生的条件。针对不同的失效机理，失效模型的形式可以是应力强度模型、寿命模型、 性能衰减模型或是强度衰减模型，同时，每种模型又对应着各自形式的失效判据。 3-1 与时间相关的失效模型 产品的失效依据其是否具有损伤的时间累积效应而被分为“过应力型失效”和“耗损型 失效”，所以，与时间相关的失效模型定量地描述了产品随时间的损伤积累状况，在宏观上 表现为性能或是参数随时间的退化。 目前，在电子的可靠性领域，最为常见的失效模型在数学的形式上包括了如下的三种类 型：即基于激活能的模型、逆幂率的模型和Coffin-Manson 的疲劳模型。 3-1-1 基于激活能的模型 基于激活能的模型是在阿列尼乌兹模型和艾林模型的基础上所建立起来的一系列模型。 “激活能”是一个量子物理学的概念，它表征了在微观上启动某种粒子间的重新结合或重组 （即宏观上所表现出来的化学反应）所需要克服的能量障碍，所以，这一类模型的物理基础 是化学反应速率，因此，它主要用来描述电子产品中非机械（或非材料疲劳）的、取决于化 学反应、腐蚀、物质扩散或迁移等过程的失效机理。 3-1-1-1 阿列尼乌兹和艾林的模型 阿列尼乌兹模型和艾林模型是激活能模型的基础，这两个模型无论是在本质上还是在形 式上都是相当的。其主要的不同点反映在如下的两个方面： 阿列尼乌兹模型是一个基于实验结果的经验公式，而艾林模型则是一个基于化学和 量子力学的理论结果； 阿列尼乌兹模型只描述了失效与温度之间的关系，而艾林模型则认为失效与其它类 型应力间的关系也可以在模型中通过类似的数学形式给出。 尽管如此，阿列尼乌兹模型仍然是目前电子产品可靠性领域应用更为广泛的模型，其主要原 因在于：虽然艾林模型在理论上更为完备，但在实际的工程使用中并未提供太多与阿列尼乌 兹模型相比更多的应用价值。 3-1-1-1-1 阿列尼乌兹模型 阿列尼乌兹模型定量地给出化学反应速率与温度的关系。所以，如果一个产品的失效过 程取决于这样的一个化学，则阿列尼乌兹模型就给出了产品的寿命。反应环境温度T