方框带射线型接地体冲击特性影响因素.PDF

第 42 卷 第 5 期：1548-1555 高电压技术 Vol.42, No.5: 1548-1555 2016 年 5 月 31 日 High Voltage Engineering May 31, 2016 DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20160412024 方框带射线型接地体冲击特性影响因素 1 2 3 4 4 1 杨 帅 ，李超英 ，谭 波 ，邹建明 ，刘华钢 ，周文俊 1. 430072 2. 361004 （ 武汉大学电气工程学院，武汉 ； 厦门供电公司，厦门 ； 3. 430074 4. 430077 中国电力科学研究院，武汉 ； 华中电网有限公司，武汉 ） 摘 要：为研究方框带射线型接地体冲击特性，从而获取有效降阻方法，采用模拟试验方法在单一土壤与双层土 壤条件下，分别研究了土壤参数、电流波前时间以及形状尺寸对接地体冲击特性的影响。结果表明：相比于黏土， 细沙的临界击穿场强更大，小幅值电流造成的火花效应并不显著，随着电流幅值增加，火花效应开始显现，冲击 接地电阻下降趋势更加明显。冲击电流幅值由 60 kA 增至 90 kA，细沙环境下H–60 冲击接地电阻降幅为 11.7%， 黏土环境下 H−60 冲击接地电阻降幅为 1.7%；根据试验结果，波前时间对接地体冲击特性影响不大，在波前时间 范围 4~20 μs、幅值 3.125 kA 的冲击电流下，H−10 接地体冲击接地电阻维持在 6.5 Ω左右；方框带射线型接地体 结构尺寸中，射线存在有效利用长度，方框边长与射线比例在 0.167~0.273 之间较优。由于导体间的屏蔽作用， 添加分支的降阻措施有一定的局限性。采用调整方框带射线型接地体结构尺寸的方式降阻时，需综合考虑泄流通 道与屏蔽效应的影响。 关键词：接地体；冲击接地电阻；屏蔽效应；电感效应；火花效应；降阻 Influence Factor of Impulse Characteristics of Box and Ray Grounding Device 1 2 3 4 4 1 YANG Shuai , LI Chaoying , TAN Bo , ZOU Jianming , LIU Huagang , ZHOU Wenjun (1. School of Electrical Engineering, Wuhan University, Wuhan 430072, China; 2. Xiamen Electric Power Supply Company, Xiamen 361004, China; 3. China Electric Power Research Institute, Wuhan 430074, China; 4. Center China Grid Company Limited, Wuhan 430077, Ch