基于NIOSII嵌入式系统的芯片自动测试系统设计.pdfVIP

电子质量 (2016第12期) 基于NIOSH嵌入式系统的芯片自动测试系统设计 基于 NIOSII嵌入式系统的芯片 自动测试系统设计 DesignofanAutomaticTestingSystem BasedonNIOS IIEmbeddedSystem 刘忠超(连云港杰瑞电子有限公司，江苏连云港 222006) LiuZhong-chao(LianyungangJARIElectronicCompanyLimited，JiangsuLianyungang222006) 摘 要：随着国内芯片产业的不断发展 ，芯片供货需求大，但是批量测试无法满足供货要求，为此，该文提 出一种基于NIOSII嵌入式系统的芯片自动测试系统设计。NIOSII是Ahera公司推出的一种高效、灵活 的可编程片上系统，由内置NIOSII软核处理器[1J、存储器、通信接 口以及 自定义外设构成，编写下位机 自动测试控制程序并下载进FPGA，使用串口进行上下位机通信 ，从而完成芯片自动测试系统设计。