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基于噪声的电子元器件辐射加固筛选研究 电子质量 (2015第08期) 上述筛选结果与作者在噪声参量与剂量相关性～ 统计 、分析 、研究，其局限于二极管、三极管等，但要使 节中的结果是一致的，即满足随着剂量增大噪声参数增 1 噪声真正成为半导体器件的抗辐照能力表征的理想 大的器件都是可以保留的。这说明本次试验所采取的噪 手段，或对集成电路等其它器件如何评判还需要进行大 声为依据的筛选方法是可行的。 量的研究工作。 4总结 参考文献： 目前，将器件的 1厂／噪声应用于电子器件可靠性评 [1】庄亦琪，孙青．半导体器件中的噪声及其低噪声化技术 估手段 已越来越受到人们的青睐，传统的寿命试验可靠 [M】，北京：国防工业出版社，1993． 性评估技术因为其时间长，效率低等缺点已经难以适应 [2JD．M．Fleetwood，T．LMeisenheimer,J．H．Scofield．1／fN