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- 2019-11-30 发布于湖北
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《微电子器件工艺 》课程设计报告
班 级: 电子09-2
学 号: 0906040206
姓 名: 高春旭
指导教师: 白立春
N阱硅栅结构的CMOS集成电工艺设计
一.基本要求
设计如下电路的工艺流程
(1)设计上图所示电路的生产工艺流程:
(2)每一具体步骤需要画出剖面图;
(3)每一个步骤都要求说明,例如进行掺杂时,是采用扩散还是离子注入,需要解释原因,又如刻蚀,采用的是干法刻蚀,还是湿法刻蚀,这类问题都须详细说明.
(4)在设计时,要考虑隔离,衬底选择等问题.
(5)要求不少于5页,字迹工整,画图清楚.
二、设计的具体实现
2.1 工艺概述
n阱工艺 为了实现与LSI的主流工艺增强型/耗层型(E/D)的完全兼容,n阱CMOS工艺得到了重视和发展。它采用E/D NMOS的相同的p型衬底材料制备NMOS器件,采用离子注入形成的n阱制备PMOS器件,采用沟道离子注入调整两种沟遭器件的阈值电压。 n阱CMOS工艺与p阱CMOS工艺相比有许多明显的优点。首先是与E/D NMOS工艺完全兼容,因此,可以直接利用已经高度发展的NMOS工艺技术;其次是制备在轻掺杂衬底上的NMOS的性能得到了最佳化--保持了高的电子迁移率,低的体效应系数,低的n+结的寄生 HYPERLI
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