基于虚拟仪器的半导体特性参数测试仪的设计与探究.pdfVIP

ELECTRONICS WORLD 探 索与观察 ・ 基于虚拟仪器的半导体特性参数测试仪的设计与研究 北方工业大学电子信息工程学院微电子学系 闫强强 秦东风 马亮亮 陈勇达 郝铁营 魏淑华 【摘要】 本文利用虚拟仪器技术进行了二极管，三极管伏安特性测试系统的研究设计。硬件平台选用NI公司的 PCI-6251数据采集卡，实现数据的产生与采集；软件利用NI公司的 LabVIEW 8.2开发平台完成。整个测试系统能方便 的完成二极管，三极管的特性参数测试。 【关键词】 虚拟仪器；LabVIEW；数据采集；伏安特性曲线 1 引言 在传统的半导体参数测试实验中，通常需要使用多 种测量仪器来测量半导体的伏安特性曲线和其他参数。 为了降低实验成本，简化实验操作过程，采用虚拟仪器 技术在NI LabVIEW环境下设计一种半导体伏安特性测试 系统，可以方便的显示半导体器件的特性曲线，并且可 将主要参数抽取出来单独进行处理