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数字电路实验
邱泽敏 万智萍 编
中山大学新华学院
二〇一五年二月
目 录
实验一 TTL 集成与非门电路主要参数的测试 3
实验二 组合电路的设计(一) 6
实验三 组合电路的设计(二) 8
实验四 译码显示电路 9
实验五 多路选择器及其应用 13
实验六 组合电路中的竞争与冒险 18
实验七 触发器及其应用 20
实验八 同步计数器的设计 24
实验九 集成移位寄存器及其应用 27
实验十 脉冲分配器的设计 29
实验十一 彩灯循环控制电路的设计 32
实验十二 智力竞赛抢答装置的设计 34
附录一 常用TTL 数字集成电路汇编 36
2
实验一 TTL 集成与非门电路主要参数的测试
一、 实验目的
了解TTL 集成与非门电路参数的物理意义,掌握电路主要参数的测试方法。
二、 原理概述
任何一个数字系统,都要大量使用集成电路,这些集成电路在使用之前必须经过严格的挑选,使选用
器件的各参数满足逻辑设计的要求,从而保证整机工作的可靠性和稳定性。因此,对器件参数的测试是十
分重要的。本实验是对TTL 与非门主要参数的测试,由于其他器件(如与或非门、三态门、触发器等) 的输
入输出电路和与非门是相同或相似的,所以本实验具有普遍的意义。
TTL 与非门电路的参数包括:(1)空载导通电流和截止电流。(2)输入负载特性。(3)输入箝位电压。(4)
输出高电平。(5)输出低电平。(6)输入短路电流。(7)输入交叉漏电流。(8)开门电平。(9)关门电平。(10)扇
入系数。(12)平均传输时间。(13)输出波形的上升时间和下降时间。
本实验使用的器件是四2 输入与非门(每块集成块中有四个2 输入的与非门)74LS00 。图1.1 给出了它
的外引线的功能端排列图。
图1.1 74LS00 外引线图
三、 实验内容
本实验使用了两块 74LS00,共有 8 个与非门。先在实验箱中插好集成块,并连好电源线及地线,对
其中的一个与非门作以下主要参数的测试。
l、输入短路电流ISD
测量原理图如图1.2 所示。(用万用电表mA 档) 。
ISD 可近似信号源输出低电平时向信号源的灌电流。
[注]:非被测量输入端的处理,对不同的系列,有不同的要求,如对7400 系列,非被测量输入端是悬空的,对74LS 系列,
要接4.5V 。为简单起见,这里接电源电压5V。
3
图1.2 测量输入短路电流ISD 原理图 图1.3 测量输入交叉漏电流IRE 原理图
2、输入交叉漏电流IRE
测量原理图如图1.3 所示。(用万用电表50 A 档) 。
IRE 可近似信号源输出高电平时对信号源的拉电流。
3、输出高电平VOH 及关门电平Voff 。
测量电路如图1.4 所示,先调W 使输入电压V 为0V ,这时的输出电压即为V ,然后逐渐增大输入
i OH
电压,当输出电压下降到90%VOH 时,测得的输入电压即为关门电平Voff 。
图1.4 测量输出高电平VOH 及关门电平Voff 原理图
4.输出低电平VOL 及开门电平Von
测量电路如图 1.5 所示。先调W ,使输入为高电平,测得的输出电压即为VOL ,然后逐渐减少输入电
压,测得使输出电压维持在VOL 的最低输入电压,即为开门电平Von 。由3、4 测量结果,可定出与非门的
低电平噪声容限和高电平噪声容限。
图1.5 测量输出低电平VOL 及开门电平Von 原理图
5.测量电压传输特性曲线
图1.5 去掉RL 即为测量电路。调W ,使输入电压由小到大,用万用表对应地测出输入电压和输出电
压,并一一记录在表1.1 中。表1.1
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