GB/T 18290.2-2000无焊连接　第2部分：无焊压接连接　一般要求、试验方法和使用导则.pdf

GB/T 18290.2-2000 健Le 前 「习 本标准等同采用IEC60352-2:1990《无焊连接 第2部分：无焊压接连接 一般要求、试验方法和 使用导则））和IEC60352-2的修订本 10996年）。 本标准由中华人民共和国信息产业部提出。 本标准由全国电子设备机电元件标准化技术委员会归口。 本标准由信息产业部电子工业标准化研究所负责起草。 本标准主要起草人：佘玉芳、汪其龙。 本标准为首次发布。 GB/T18290.2-2000 IEC前言 1)IEC在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员 会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。 2)这些决议或协议以标准、技术报告或导则的形式发布，以推荐的形式供国际上使用，并在此意义 上，为各国家委员会认可。 3)为了促进国际上的统一，各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用 IEC标准。 IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异应在国家或地区标准中指明。 4)IEC未制定使用认可标志的任何程序，当宣称某一产品符合相应的IEC标准时，IEC概不负责。 GB/T18290.2-2000 IEC引言 本标准由IEC/TC48（电子设备用机电元件）制定的。 本标准与IEC60512《电子设备用机电元件 基本试验规程和测量方法》一同使用。 本标准文本以下列文件为依据： 六│个月法则 │ 表决报告 │ 4│8(C.0.)301│ 48(C.0.)304│ 表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。 引用标准 〕‘： 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均 为有效。所有标准都会被修定，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。 GB/T4210-1984 电子设备用机电元件名词术语 e（qvIEC50-581:1978) GB/T5095.1-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分：总则 (idtIEC60512-1：1994) GB/T5095.2-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分：一般检查、电 连续性和接触电阻测量、绝缘试验和电压应力试验(i（dtIEC60512-2:1994) GB/T5095.5-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分：撞击试验 （自 由元件）、静负荷试验 （固定元件）、寿命试验和过负荷试验 (idtIEC60512-5：1992) GB/T5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第 6部分：气候试验和 锡焊试验(idtIEC60512-6：1984) GB/T5095.8-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分：连接器、接触 件及引出端的机械试验 i（dtIEC60512-8:1993) GB/T5095.9-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分：杂项试验 (idtIEC60512-9：1992) GB/T5095.11-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第 11部分：气候试验 (idtIEC60512-11：1995) IEC60068-1:1988 环境试验 第 1部分：总则和导则 IEC60130-7:1971频率低于3MHz的连接器 第7部分：卡口和推拉连接的多接