GB/T 22094-2008电子数显测高仪.pdf

ICS17．040．30 J 42 a国 中华人民共和国国家标准 GB／T Ej 电子数显测 仪 同 instrumentwithelectronic measuring digitaldisplay Height 2008-06-25发布 丰瞀粥紫瓣警雠瞥星发布中国国家标准化管理委员会“”’ 22094--2008 GB／T 刖 置 本标准由中国机械工业联合会提出。 132)归口。 本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC／TC 本标准起草单位：成都工具研究所、马尔精密量仪(苏州)有限公司。 本标准主要起草人：李维国、姜志刚、唐以杰、何东星、王春。 22094—2008 GB／T 电子数显测高仪 1范围 本标准规定了电子数显测高仪的术语和定义、型式与基本参数、工作条件、要求、试验方法、检验方 法、标志与包装等。 000 本标准适用于分辨力为0．1pm、0．2pm、0．5pm和1pm，量程不超过1 mm的电子数显测高 仪(以下简称“测高仪”)。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有 的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 2423．3—2006 GB／T 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验 60068 (IEC 2—78：2001，IDT) 2423．22—2002 GB／T 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验N：温度变化 60068—2—14：1984，IDT) (IEC IEC GB 529：1989) 4208--2008外壳防护等级(IP代码)(eqv GB／T17163几何量测量器具术语基本术语 17626．2 61000—4—2：2001， GB／T 2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验(IEC IDT) 61000—4— GB／T17626．3—2006电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验(IEC 3：2002，IDT) 3术语和定义 GB／T17163中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。