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JC MCUTECHNOLOGY CO.,LTD . 智拓科技教育部 h t t p : / / w w w . o u r j c d z . c o m 技术部 技技术术部部 JC SCIENCETECHNOLOGYCO.,LTD. 边界扫描测试的原理及应用设计 智拓仪器教育部：致力于：嵌入式培训领域 主营：学习板，电子模块，学习套件，解决方案与成果转让与技术服务 QQ:422954 Tel: 第1页 共5 页 计算机应用 边界扫描测试的原理及应用设计 ( ) 中国科学技术大学近代物理系 合肥 230027 　宋克柱 　杨小军 　王砚方 　　摘 　要 　文章介绍了边界扫描测试的原理 ,分析了联合测试行动组J TA G 控制器的逻辑状态 ,并给出了 J TA G 测试具体应用的 V HDL 原代码和逻辑仿真波形。利用J TA G 接口可以方便地进行复杂 IC 芯片连接的故障定位 ,灵活控制 IC 芯片进入特定的功能模式等。 　　关键词 　边界扫描测试 　J TA G 控制 　状态机 　可编程逻辑器件 21154 芯片的 J TA G 控制器的设计步骤 , 给出 1 　概述 V HDL 代码和逻辑时序波形。 　　在现代电子应用系统中 , 印刷电路板越来越复 2 　JTAG 测试原理 杂 ,多层板的设计越来越普遍 ,大量使用各种表贴元 件和 B GA (ball grid array) 封装元件 ,元器件的管脚 　　边界扫描测试是通过在芯片的每个 I/ O 脚附 ( ) 数和管脚密度不断提高 ,使用万用表、示波器测试芯 加一个边界扫描单元 BSC ,boundary scan cell 以及 片的传统“探针”方法已不能满足要求。在这种背景 一些附加的测试控制逻辑实现的 ,BSC 主要是由寄 ( 下 ,早在 20 世纪 80 年代 ,联合测试行动组 joint test 存器组成的。每个 I/ O 管脚都有一个 BSC , 每个 action group , 简称 J TA G) 起草了边界扫描测试 BSC 有两个数据通道 :一个是测试数据通道 ,测试数 ( boundaryscan testing , 简写 BST ) 规范 , 后来在 据输入 TDI ( test data input ) 、测试数据输出 TDO 1990 年被批准为 IEEE 标准 1149. 11990 规定 ,简 (test data output ) ; 另一个是正常数据通道 ,正常数 称J TA G 标准。 据输入 NDI ( normal data input ) 、正常数据输出 边界扫描测试有两大优点 :一个是方便芯片的 NDO (normal data output ) 。如图 1 所示。 故障定位 ,迅速准确地测试两个芯片管脚的连接是 否可靠 ,提高测试检验效率 ; 另一个是 ,具有 J TA G 接口的芯片 , 内置一些预先定义好的功能模式,通过 边界扫描通道来使芯片处于某个特定的