ZnO2fZnS纳米线核壳结构的制备与其紫外光检测特性分析.pdfVIP

摘 要 由于 ZnO 纳米线具有大的比表面积，从而产生了其块状材料所不具备的表面效 应、小尺寸效应和宏观量子隧道效应等，这些优异的性能使ZnO 纳米线广泛应用于发 光二极管，场效应晶体管，化学/气体传感器，光电检测器和平板显示器等。 尽管一维纳米光电子器件在紫外光电器件中展现出许多优异的性能，人们对基于 半导体纳米线肖特基势垒的一维光检测器件的性能也开展了许多研究工作，取得长足 的进展，但仍然存在一些问题。 首先，研究发现影响光检测的主要因素是肖特基势垒，肖特基势垒高度受到表面 态的控制。但是由于ZnO 纳米线的表面态比较复杂，使得人们对其光电输运行为缺少 有效的控制，这使器件的性能表现出不稳定、不重复的问题。 其次，ZnO 核壳异质结构纳米线的壳层能够钝化ZnO 的表面态，从而得到不同于 单一体系的光电特性。但基于单根核壳结构的纳米线器件的光电输运特性以及其光电 荷分离和传输的过程依然不是十分清楚。 基于上述问题，在本论文中，首先通过在位电场组装的方法制备了单根ZnO 纳米 线肖特基势垒紫外光检测器，并研究了肖特基势垒对 ZnO 纳米线输运特性的控制作 用。其次通过对ZnO 纳米线