08-09 X射线的衍射强度.pptVIP

第三章 X射线衍射强度 3-1 引言 X射线衍射分析晶体结构所需的信息： 衍射方向: 反映晶胞的大小和形状因素，可以 用Bragg方程描述。 衍射强度: 反映晶体的原子种类以及原子在晶 胞中的位置不同。 可以进行合金的定性分析、定量分析、固溶体 点阵有序化，点阵畸变等。 课堂习题 具有面心立方结构的Si元素，其晶胞参数如下： 点阵常数a=0.54nm，单胞有4个原子，分别位于 0 00，1/2 1/2 0，1/2 0 1/2，0 1/2 1/2，试求CuKα射线得到X射线衍射图谱中最初3条衍射线的位置，必须考虑衍射线条结构消光的影响。 习题答案 超点阵衍射斑点 假设晶胞内有异种原子存在，必须在F的求和公式 中考虑各原子的原子散射因子f不相同这一因素。因 而消光规律和衍射强度都发生变化。 实验中经常出现在某一合金上原来不存在的衍射 线，经过热处理形成长程有序后出现超点阵衍射斑 点，这就是晶胞内出现异种原子所引起的。 平板试样的吸收因数 1）衍射角θ一定时，温度越高，衍射强度I 随之减小。 2）温度T一定时，衍射角θ越大，衍射强度I 随之减小。 结构因子应用举例－有序固溶体分析 Cu3Au在高温下系无序固溶体，当温度低于Tc（有序—无序转变温度）点阵中各原子重新排列，呈现某种规律，即有序化，此时称之有序固溶体，经过有序化的固溶体点阵称之超点阵或超结构。 （1）完全无序 每个晶胞中含有四个平均原子（0.75 Cu+0.25Au）属面心立方点阵。坐标000 1/2 1/2 0 1/2 0 1/2 0 1/2 1/2 FHKL=f平均[1+eπi(H+K)+eπi(H+L)+eπi(K+L)] 当H、K、L全为奇数或全为偶数时 FHKL=4 f平均=fAu+3fCu 当H、K、L为奇偶混杂时， FHKL=0 消光 有序固溶体分析 2）当完全有序 Au占据坐标000 Cu占据坐标： 1/2 1/2 0， 1/2 0 ?， 0 1/2 1/2 FHKL=fAu+ fCu [eπi(H+K)+eπi(H+L)+eπi(K+L)] 当H、K、L全为奇数或全为偶数时 FHKL=fAu+3fCu 当H、K、L为奇偶混杂时 FHKL=fAu-fCu≠0 基本线条、超点阵线条。超点阵线条的存在是有序化有力证据，它的强度变化确定合金的长程有序度。 有序固溶体分析 3-3 多晶体的衍射强度 为了计算衍射线强度，首先要求出结构因子。对于多晶粉末，影响X射线强度的因子有五项。 结构因子 角因子(包括极化因子和罗仑兹因子) 多重性因子 吸收因子（平面状和圆柱状样品的吸收） 温度因子 多重性因子 晶体中晶面距相同、晶面上原子排列规律相同的晶面，称为等同晶面。 在多晶衍射中，等同晶面的所有成员都有机会参与衍射，这些晶面对应的衍射角2θ都相等，形成一个衍射锥。 一个晶面族中，等同晶面越多，参与衍射的概率就越大，这个晶面族对衍射强度的贡献也就越大。把同族晶面{HKL}的等同晶面数P称为衍射强度的多重因子。 各晶面族的多重因子列表 三斜 单斜 斜方 正方 菱方、六方 立方 2 2 2 4 2 4 2 8 4 2 16 8 8 4 2 4 24 12 6 2 6 48 24 24 12 8 6 P HKL HHL H0L 0KL HK0 HH0 HHH 00L 0K0 H00 指数 晶系 角因子之罗仑兹因子 罗仑兹因子是考虑影响衍射线强度的一些几何因素： 晶粒大小对强度的影响 晶粒数目的影响 衍射线位置对强度测量的影响 以上三种几何因子影响均于布拉格角有关，称为：罗仑兹因子φ(θ) 晶粒大小对强度的影响 1) 晶体很薄时的衍射强度 在严格的布拉格角情况下，对于晶体的某些晶面将会出现消光。(晶体为无穷大时) 但晶体很薄，晶面数目很少，相消过程不完全，结果某些本应相消的衍射线将会重新出现。 晶粒大小对强度的影响 在稍微偏离布拉格角情况下，将导致强度减弱的衍射线出现。 如果晶面数少，则布拉格角偏到很大仍有衍射线强度。 实际晶体的衍射强度曲线（a）和理想状态下衍射强度曲线（b)的比较 影响衍射峰宽的因素： 1）X射线不是绝对平行，存在较小的发散角。 2） X射线不是单色的。 3）仪器宽化。 4）内应力造成的宽化。 5