红外辐射测温理论第07章.pptVIP

7.2方向发射率测量 这种测量方法主要包括： 反射率法 和 能量法。 7.2.1反射率法 根据能量守恒定律及基尔霍夫定律，将已知强度的辐射能投射到被测的不透明样品表面上，并用反射计测出表面反射能量，即可求得样品的反射率并进而计算出发射率。反射率法需要把试样置于反射计腔内。 热腔反射计、积分球反射计、积分镜（抛物面、椭球面等）反射计、激光偏振器、镜面反射计及测角反射计等。 常用的反射计： 1.热腔反射计 1962 年，Dunkle等人就建立了热腔反射计测量方法，该方法的测量波长范围一般为 1~15μm，可扩展到 35μm。精度取决于能否保证样品温度大大低于热腔壁的温度，所以该方法不适用于高温测量。由于样品制做简便，设备比较简单，测试周期也较短，故仍得到一定范围的应用， 热腔反射法原理图 Dunkle热腔反射计示意图 光学系统示意图 试样是黑腔壁的一部分，试样在半球向内受来自腔壁的辐射，试样及腔壁一个区域的像交替地被聚焦进单色计入口，两种光的单色计输出信号比就是试样的半球定向反射比。 2.积分球反射计 积分球反射法原理图 主要组成部分：一个具有高反射率漫射内表面的积分球。 工作原理：被测样品置于球心处，入射光从积分球开口处投射到样品表面并反射到积分球内表面上，经过球面第一次反射即均匀分布在球表面上，探测器从另一孔口接收球内表面上的辐射能。 然后以某一已知反射率的标准样品取代被测样品，重复上述过程，两次测量辐射能之比即为反射率系数，被测样品的反射率即为反射率系数乘以标准样品的反射率。 3.激光偏振法 激光偏振发射率测量装置图 20 世纪90 年代， 美国NIST 的Nordince 博士提出利用激光偏振法测量棒状试样发射率的方法。Cezairliyan 等人利用该方法测量了几种材料的发射率， 测量精度优于5%， 测量时间小于0.3 s，但只能测量光滑表面的材料发射率。 7.2.2能量法 根据不同类型参考黑体的结构，测量方案可分为： 独立黑体、整体黑体 和 转换黑体。 基本原理: 直接测量样品的辐射功率，根据普朗克或斯蒂芬-玻尔兹曼定律和发射率定义计算出样品表面发射率。 一般均采用能量比较法，即在同一温度下用同一探测器分别测量绝对黑体及样品的辐射功率，两者之比就是材料的发射率值。 参考黑体是这种方法的关键，较大程度地影响着测量精度。 1.独立黑体法 许进堂等人采用单台独立黑体方案设计了一套中温法向全波长发射率测量装置，精度达 3.7%。 原理： 采用标准黑体炉作为参考辐射源，样品与黑体各自独立的，辐射能探测器分别对它们进行测量。使用无光谱选择性的温差电堆或热释电等器件，可测定全波长发射率；如使用光子探测器并配以单色滤光片，则可测定样品的光谱发射率。 结构比较简单、成本较底。 优点： 必须分别测量参考黑体及样品的热辐射光谱能量，测量条件较难保持一致。 缺点： NRLM 研发了一种基于付立叶变换光谱分析仪用于近室温红外发射率温区的红外发射率高精度测量装置。 2.双黑体法 Ishii and Ono 红外FTIR辐射计图 光谱分析仪使用了一个简单的Michelson干涉仪，其中包含两个角式立方体反射镜和一个KBr 分光器。光谱范围 5-12μm，探测器为光伏型的HgCdTe。为了标定和补偿漂移，该光谱分析仪安装了两个高质量参考黑体炉，一个是固定温度黑体，有液氮制冷；另一个是可在-20—100℃调温的黑体炉。标定过程中将前相校正技术应用于观察到光谱和辐射光谱的全部重建，作了一系列的测试用于检验光谱分析仪的特性。实验证明，当目标直径尺寸大于 20mm时，该光谱分析仪的尺寸效应可以忽略不计，非线性误差在 100℃时 10μm带宽内小于 0.005。测量时间为几秒。 3.多光谱法 Lindermeir 等人设计的测量装置图 （1）1992年，德国的Lindermeir 等人利用傅里叶红外光谱仪设计了一套能够同时测量物体发射率和温度（500 K 以下）的装置。 测量的波长范围:1.3~5.4 μm，光谱仪的最大分辨率是0.5 cm-1。 半椭球反射镜反射计测量系统原理图 （2）1994 年Markham 等人研制的半椭球反射镜反射计测量系统。该系统可以同时测量材料的光谱发射率和温度， 温度测量范围为50～2 000 ℃， 典型测量精度为±5％， 光谱测量范围为0.8～20 μm， 典型测试精度为±3％。试样直径为10～40 mm，试样的有效直径测量范围为1～3 mm。 Bauer 等人设计的测量设备图 （3）为了提高光谱发射率的测量精度和光谱测量范围，1998 年，Bauer 等人在原有的