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2.驱动特性 MOSFET栅源间静态电阻趋于无穷大,静态时栅极驱动电流几乎为零,但由于栅极输入电容的存在,栅极在开通和关断的动态驱动中仍需一定的驱动电流。 ①开通驱动特性 开通时间 振荡过程 感性负载 引线电感 驱动电路输出电阻 ②关断驱动特性: VGS=VDS+VT 预夹断,进入放大区 VDS关断时,由于引线电感存在,产生尖峰电压 电路中应加缓冲电路,限幅电路防止过电压 关断时,负驱动信号 尖峰电压 二、栅极驱动电路 (一)驱动电流选择: 不同MOSFET,极间电容量不同,功率越大,极间电容越大,开通关断驱动电流也越大。 1.开通驱动电流: 在ts时间内,将栅极输入电容充电到饱和导通所需电压VGS 2.关断驱动电流: 截止时漏极电压 放电时间 (二)驱动电路 1.直接驱动电路:TTL OC门驱动 互补输出驱动 CMOS驱动电路 2.隔离驱动电路:电磁隔离,光电隔离; 3.实用驱动电路及保护电路 种类很多:正反馈型,窄脉冲自保护型,高速关断型; 常用,如双PNP管驱动电路; 保护电路:采样漏极电压,与控制脉冲比较,实现保护。 双绞线 过流检测 SBD 三、MOSFET并联: 具有正温度系数沟道电阻,并联时可利用这一特性均流。 一般,静态电流均衡问题不大,关键是动态电流均衡分配, 如:开通、关断、窄脉冲下的峰值电流。 解决方法: ①选择器件,参数尽量一致;gm VT Ron ②并联MOSFET各栅极用电阻分开;串入电阻大于栅极电阻。 ③栅极引线设置磁珠,形成阻尼环节。 ④漏极间接入几百PF电容,改变耦合相位关系 ⑤源极引入适当电感 ⑥ 精心布局,器件对称,连线长度相同,驱动线双绞、等长。 四、MOSFET保护 1.防止静电击穿; 2.防止偶然性振荡损坏器件; 3.防止过电压; 4.防止过电流; 5.消除寄生晶体管、二极管影响。 §5.4 应用 DC—DC变换器; DC—AC变换器; 开关电源; 中频、高频加热电源; * 第五章 功率场效应晶体管 (Power MOSFET) TO-247AC TO-220F TO-92 TO-126 §5.1 结构与工作原理 一、普通MOSFET基本结构 特点:单极型电压控制器件,具有自关断能力,驱动功率小 工作速度高,无二次击穿问题,安全工作区宽。 1.N沟道MOSFET 工作原理: ①VGS=0,无导电沟道。 ②VGS0,反型层出现, 形成N沟道,电子导电。 G D S 类型:增强型,耗尽型 增强型 2.P沟道MOSFET:空穴导电 分类:增强型,耗尽型 G D S G D S 增强型 耗尽型 3.存在问题:平面型结构 S、G、D处于同一平面,电流横向流动,电流容量不可能太大;要获得大功率,可增大沟道宽/长比(W/L),但沟道长度受工艺限制,不能很小;增大管芯面积,但不经济,因此管子功率小,大功率难实现。 二、功率MOSFET: 如何获得高耐压、大电流器件? 对比GTR,GTR在功率领域获得突破的原因: ①垂直导电结构:发射极和集电极位于基区两侧,基区面积大, 很薄,电流容量很大。 ② N-漂移区:集电区加入轻掺杂N-漂移区,提高耐压。 ③双重扩散技术:基区宽度严格控制,可满足不同等级要求。 ④ 集电极安装于硅片底部,设计方便,封装密度高,耐压特性 好,在较小体积下,输出功率较大。 (一)VMOSFET: 保留MOSFET的优点,驱动功率小;吸收GTR优点,扩展功率,主要工艺: ①垂直导电结构;② N-漂移区;③双重扩散技术; 1.VVMOSFET:美国雷达半导体公司1975年推出 特点: ①VGS加电压后,形成反型层沟道,电流垂直流动。 ②漏极安装于衬底,可充分利用硅片面积 ③N-漂移区,提高耐压,降低CGD电容。 ④双重扩散可精确控制沟道长度。 缺点:V型槽底部易引起电场集中,提高耐压困难,改进:U型MOSFET。 2.VDMOSFET:垂直导电的双扩散MOS结构 沟道部分是由同一扩散窗利用两次扩散形成的P型体区和N+型源区的扩散深度差形成的,沟道长度可以精确控制——双重扩散。 电流在沟道内沿着表面流动,然后垂直地被漏极吸收。由于漏极也是从硅片底部引出,所以可以高度集成化。 漏源间施加电压后,由于耗尽层的扩展,使栅极下的MOSFET部分几乎保持一定的电压,于是可使耐压提高。 在此基础上,各种性能
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