热电检测器件.ppt

第四章 热电检测器件 利用物质的光电效应把光信号转换成电信号的器件 光子检测器件 响应波长有选择性 响应快 热电检测器件 第一节 热电检测器件基本原理 一、定义 利用热效应（器件吸收入射辐射产生温升引起材料物理性质的变化）输出电信号的器件。 特点：从光谱响应角度来看，热探测器又称为无选择性探测器（对全波长有相同的响应率），且室温下不需制冷。 二、输出信号的形成过程包括两个阶段： 1、辐射能转化为热能（共性）； 2、热能转换为电能（个性，不同的器件将不同电信号输出）。 热辐射的一般规律  1. 温度变化方程 2. 热电器件的最小可探测功率 热敏电阻与热电偶、热电堆探测器 热敏电阻 （狭义：半导体） 2. 热敏电阻的原理、结构及材料 热敏电阻探测器结构 3. 热敏电阻的参数 （2）热敏电阻阻值近似变化量 （4）冷阻与热阻 （5）灵敏度（响应率） （6）热敏电阻的最小可探测功率 （P124） 5.2.2 热电偶探测器 1.热电偶的工作原理 （2）响应时间 热电堆探测器 （P117） （3）最小可探测功率 第四节 热释电器件 热释电器件的基本工作原理 2. 热释电器件的工作原理 热释电器件的灵敏度 3 热释电器件的噪声 3. 温度噪声 4 响应时间 5.3.4 热释电器件的类型（三种品质因素P130） 2. 铌酸锶钡 (SBN) 热释电器件 3. 钽酸锂（LiTaO3） 4. 压电陶瓷热释电器件 5. 聚合物热释电器件 5.3.5 典型热释电器件 本章完结 思考题与习题 5 铁电体的自发极化强度PS（单位面积上的电荷量）随着温度的升高而减低，当温度升高到一定值， PS突然消失，这个温度常被称为“居里温度”或“居里点”。 在居里点以下，极化强度PS是温度T的函数。利用这一关系制造的热敏探测器称为热释电器件。 PS单位体积内的电矩矢量之和 红外辐射照射到极化后的铁电体上，温度升高，表面电荷减少，相当于热“释放”了部分电荷。释放的电荷可用放大器转变成电压输出。如果辐射持续作用，表面电荷将达到新的平衡（温度达到平衡），不再释放电荷，也不再有电压信号输出。 热释电器件不同于其他器件，在恒定辐射作用的情况下输出的信号电压为零。只有在交变辐射的作用下才会有信号输出。 温度恒定，内部自由电荷中和表面束缚电荷的时间常数为τ＝ερ（ 1s－1000s，非退极化时间，非器件工作的时间常数），ε和ρ为介电常数和电阻率。 在面束缚电荷被中和掉之前，热释电晶体的温度因吸收辐射（ ＞ ）而发生变化，PS及束缚电荷面密度σ随温度T也随之变化（非平衡态，时间短10-12s）。 两种电极结构： （a）要求电极对光透明 （b）更适宜高速探测应用 热释电器件产生的热释电电流在负载电阻RL上产生的电压为 电压响应正比于热释电系数和温度的变化速率dT/dt（材料吸收率大，热容小， 则温度变化率大），与晶体和入射辐射达到平衡的时间无关。若为恒定光照 dT/dt=0，则U=0。 P称为热释电系数，其单位为c/cm2?K，与材料本身的特性有关，表示自发极化强度随温度的变化率。 （P129） 衡量器件的三种品质因素：P130 热释电探测器几乎是一种纯容性器件，阻抗很高，常在109Ω以上。因此，必须配高阻抗的负载。常用JFET器件作热释电探测器的前置放大器。 如果将热释电器件跨接到放大器的输入端，其等效电路如图所示。由等效电路可得热释电器件的等效负载电阻为 ： R(=Rs//RL)和C(=Cs+CL)为热释电器件和放大器的等效电阻和电容。 对于热释电系数为P，电极面积为A的热释电器件，其在以调制频率为ω的交变幅射照射下（ ）的温度可以表示为 T0为环境温度，ΔT0表示热释电器件接收光辐射后的平均温升 输入到放大器的电压为 τT＝CQ/G为热释电器件热时间常数。 输出电压的幅值为 τe＝RC为电路时间常数，R =Rs∥RL，C=Cs＋CL。τT =CQ/G为热时间常数。τe、τT的数量级为0.1～10s左右。A为光敏面的面积，a为吸收系数，ω为入射辐射的调制频率。 电压灵敏度Sv为输出电压的幅值U与入射光功率之比 几点讨论： (1) 当入射为恒定辐射，即ω＝0时，Sv=0，说明热释电器件对恒定辐射不灵敏； (2) 在低频段ω＜1/τT或1/τe时，灵敏度S v与ω成正比，为热释电器件交流灵敏的体现。 (3) 当τe ≠ τT时，通常τe＜τT，在ω