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优化射频微波测试系统的部件-Keysight.PDF
优化射频/ 微波测试系统的部件
比较各种可选的仪器、
连通性和软件
应用指南 1464-17
也变得越来越困难。复杂程度越高一般 目录
意味着要求越多项目的测试,也就需要
DUT 所勾画的 “未来”2
更长的开发时间和更为复杂的测试系
评审某些基本考虑 2
统。在您试图建立这样的系统时,不仅
DUT 的主要属性 2
受到预算和进度的约束,满足当前和未
对测试系统的制约 3
来需要的灵活能力更是严峻的挑战。
把要求转换为设备选择 4
无论您是需要测试最新型的蜂窝电 这篇应用指南阐述的理念和提出的 常见例子中的硬件类型比较 4
话,还是测试下一代军事无线电设备或 建议将帮助您建立精确和可重复评估被 例一: 传统模拟仪器 5
先进雷达系统,能否满足客户需要决定 测装置的灵活和长生命期的射频/ 微波 例二: 下一代模块式仪器 6
于它能否能提供精确和可重复的结果。 测试系统。我们的目标是使您建立能在 例三: 现代矢量仪器 7
对于参数测试和功能测试,随着被测装 当前和未来更容易地配置、更新和修改 三种方法的比较 7
置越来越复杂,实现高精度和高重复性 的系统。 扫视连通性选择 8
评审软件和通信的可选方案 8
把它们融合到一起 9
成就测试系统开发的未来 10
相关文献 10
术语表 11
DUT 所勾画的“未来” 在测试系统包括长生命期硬件、输
入/ 输出(I/O)和软件时,就能更好地
当讨论能适应未来的测试系统时,
满足长生命期和短生命期 DUT 的需要。
重要的是阐明在 DUT 及其预期生命期
仔细选择这三种部件将增强系统灵活
语境中“未来”的含义。对于射频/ 微波
性,以及对多种 DUT 和应用进行精确
测试系统,在特定未来要求方面, DUT
和可重复
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