优化射频微波测试系统的部件-Keysight.PDFVIP

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优化射频/ 微波测试系统的部件 比较各种可选的仪器、 连通性和软件 应用指南 1464-17 也变得越来越困难。复杂程度越高一般 目录 意味着要求越多项目的测试,也就需要 DUT 所勾画的 “未来”2 更长的开发时间和更为复杂的测试系 评审某些基本考虑 2 统。在您试图建立这样的系统时,不仅 DUT 的主要属性 2 受到预算和进度的约束,满足当前和未 对测试系统的制约 3 来需要的灵活能力更是严峻的挑战。 把要求转换为设备选择 4 无论您是需要测试最新型的蜂窝电 这篇应用指南阐述的理念和提出的 常见例子中的硬件类型比较 4 话,还是测试下一代军事无线电设备或 建议将帮助您建立精确和可重复评估被 例一: 传统模拟仪器 5 先进雷达系统,能否满足客户需要决定 测装置的灵活和长生命期的射频/ 微波 例二: 下一代模块式仪器 6 于它能否能提供精确和可重复的结果。 测试系统。我们的目标是使您建立能在 例三: 现代矢量仪器 7 对于参数测试和功能测试,随着被测装 当前和未来更容易地配置、更新和修改 三种方法的比较 7 置越来越复杂,实现高精度和高重复性 的系统。 扫视连通性选择 8 评审软件和通信的可选方案 8 把它们融合到一起 9 成就测试系统开发的未来 10 相关文献 10 术语表 11 DUT 所勾画的“未来” 在测试系统包括长生命期硬件、输 入/ 输出(I/O)和软件时,就能更好地 当讨论能适应未来的测试系统时, 满足长生命期和短生命期 DUT 的需要。 重要的是阐明在 DUT 及其预期生命期 仔细选择这三种部件将增强系统灵活 语境中“未来”的含义。对于射频/ 微波 性,以及对多种 DUT 和应用进行精确 测试系统,在特定未来要求方面, DUT 和可重复

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