GB/T 26068-2018硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法.pdf

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  •   |  2018-12-28 颁布
  •   |  2019-11-01 实施

GB/T 26068-2018硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法.pdf

经任何处理,选择4个实验室进行巡回测试,所用测试设备为相同厂家制造的不同型号设备,每个样片测试5次。测试结果显示,各实验室每个样片使用同一设备测试的相对标准偏差在1.5%内的占93.3%,在不区分实验室和设备型号情况下,每个样片的测试相对标准偏差均不大于22.0%。10.4SEMIMF1535-1015[25]中关于精密度的介绍参见附录F。

ICS77.040 H21 中华人 民共和 国国家标准 / — GBT26068 2018 代替 / — GBT26068 2010 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法 Testmethodforcarrierrecombinationlifetimeinsiliconwafersand — siliconinots Non-contactmeasurementofhotoconductivitdeca g p y y

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