GB/T 6621-2009硅片表面平整度测试方法.pdf

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  •   |  2009-10-30 颁布
  •   |  2010-06-01 实施

GB/T 6621-2009硅片表面平整度测试方法.pdf

3.3.3上下探头为同轴探头,且这个共同的轴为测量轴。3.3.4在进行校正和测量时应保持A,B探头间距离D恒定。3.3.5位移分辨率应该为10nm或更优。3.3.6探头感应部位尺寸4mm×4mm或其他供需双方的商定值。

犐犆犛29.045 犎 80 中华人 民共和 国国家 标准 / — 犌犅犜6621 2009 代替 / — GBT6621 1995 硅片表面平整度测试方法 犜犲狊狋犻狀 犿犲狋犺狅犱狊犳狅狉狊狌狉犳犪犮犲犳犾犪狋狀犲狊狊狅犳狊犻犾犻犮狅狀狊犾犻犮犲狊 犵 20091030发布 20100601实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

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