GB/T 25184-2010X射线光电子能谱仪检定方法.pdf

ICS71．040．40 G04 a亘 中华人民共和国国家标准 25184—2010 cB／r X射线光电子能谱仪检定方法 for Verificationmethod photoelectron X-ray spectrometers 2010-09-26发布 宰瞀鹃紫瓣訾糌瞥星发布中国国家标准化管理委员会认1” 标准分享网 免费下载 2010lI11 25184—2010 GB／T 前 言 本标准按照GB／T1．1—2009给出的规则起草。 本标准由全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会归口。 本标准负责起草单位：福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室。 本标准主要起草人：王水菊、时海燕、丁训民。 标准分享网 免费下载 useDeterminationDeterminationGuidelinesareaChemicalrelativeviewedtoandandandandandofofofofofofofforforfactorsforchemicaldeterminedchemicalchemicalchemicalelectronthetheelectronelectronthe25184—201020175--2006chemicalselectedISOISOISOISOISOISOlaterallateralinstrumental19500--200418116 25184—2010 GB／T 3．1 能量标检定的符号和缩略语 a 测得的能量比例误差 b 测得的零点偏移误差。以eV为单位 E… 对某一给定的E～修正后的结合能结果，以eV为单位 E山。 某一频繁被测元素的结合能，其值在指出的结合能标尺上已设定，经校准后能准确读 出，以eV为单位 E一， 测得的结合能，以eV为单位 E… 表1中对第n个峰测得的结合能平均值，以e