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商管科技季刊 第十三卷 第四期 民國一○一年 377
Commerce Management Quarterly, Vol.13, No.4, pp.377~395 (2012)
單邊累計合格數管制圖監控高良率製程之
方法
THE METHOD OF ONE-SIDED CUMULATIVE COUNTS OF
CONFORMING CONTROL CHART FOR HIGH YIELD
PROCESSES
*
邱靜娥
國立雲林科技大學工業工程與管理研究所副教授
蔡志欣
國立雲林科技大學工業工程與管理研究所博士生
Jing-Er Chiu
Associate Professo r, Department of Industrial Engineering and Management ,
National Yunlin University of Science and Technology
Chih-Hsin Tsai
Ph. D . Student, Department of Industrial Engineering and Management ,
National Yunlin University of Science and Technology
摘要
在高良率製程工業的迅速發展之下，對於產品不良率的嚴格要求，高良率製程
的不良率非常低，品質特性已不符合近似常態分配假設。因此無法使用傳統的 p 管
制圖與np 管制圖來監控製程不良率，若仍然使用傳統的管制圖監控製程，將會造成
錯誤警訊的增加。累計計數和 （Cumulative Count of Conforming ，CCC ） 管制圖與
CCC-r 管制圖已被提出能夠有效的監控高良率製程的不良率。另外，當品質特性呈
現不對稱分配、品質成本不對稱 、或是單方向的製程偏移較為重視的時候，單邊管
制圖的設計會比雙邊管制圖較為合適 。因此，本研究將建構單邊CCC 管制圖和單邊
CCC-r 管制圖，推導管制界限，並探討平均連串長度及其變異性，予以探討管制的
*通訊作者，地址：64002 雲林縣斗六市大學路 3 段 123 號，電話：( 05 ) 5342601 轉 5195
E -mail ：chiuje@yuntech.edu.tw
378 商管科技季刊 第十三卷 第四期 民國一○一年
績效。研究結果發現，單邊 CCC 管制圖與單邊 CCC-r 管制圖在偵測製程不良率偏移
時，有良好的表現。
關鍵字：高良率製程、單邊 CCC 管制圖、平均連串長度
ABSTRACT
In statistical process control, p -chart is usually for monitoring the fraction
nonconforming. The control limits of p -chart are obtained based on Normality
assumption. Normality assumption will be violated for very low fraction nonconforming
in high yield processes. The cumulative counts of conforming chart
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