集成电路测试原理及方法.docVIP

实用文案 PAGE 标准文档 Harbin Institute of Technology 集成电路测试原理及方法简介 院 系： 电气工程及自动化学院 姓 名： XXXXXX 学 号： XXXXXXXXX 指导教师： XXXXXX 设计时间： XXXXXXXXXX 摘 要 随着经济发展和技术的进步，集成电路产业取得了突飞猛进的发展。集成电路测试是集成电路产业链中的一个重要环节，是保证集成电路性能、质量的关键环节之一。集成电路基础设计是集成电路产业的一门支撑技术，而集成电路是实现集成电路测试必不可少的工具。 本文首先介绍了集成电路自动测试系统的国内外研究现状，接着介绍了数字集成电路的测试技术，包括逻辑功能测试技术和直流参数测试技术。逻辑功能测试技术介绍了测试向量的格式化作为输入激励和对输出结果的采样，最后讨论了集成电路测试面临的技术难题。 关键词：集成电路；研究现状；测试原理；测试方法 目 录 TOC \o 1-3 \h \z \u HYPERLINK \l _Toc388127430 一、引言 PAGEREF _Toc388127430 \h 4 HYPERLINK \l _Toc388127431 二、集成电路测试重要性 PAGEREF _Toc388127431 \h 4 HYPERLINK \l _Toc388127432 三、集成电路测试分类 PAGEREF _Toc388127432 \h 5 HYPERLINK \l _Toc388127433 四、集成电路测试原理和方法 PAGEREF _Toc388127433 \h 6 HYPERLINK \l _Toc388127434 4.1.数字器件的逻辑功能测试 PAGEREF _Toc388127434 \h 6 HYPERLINK \l _Toc388127435 4.1.1测试周期及输入数据 PAGEREF _Toc388127435 \h 8 HYPERLINK \l _Toc388127436 4.1.2输出数据 PAGEREF _Toc388127436 \h 10 HYPERLINK \l _Toc388127437 4.2 集成电路生产测试的流程 PAGEREF _Toc388127437 \h 12 HYPERLINK \l _Toc388127438 五、集成电路自动测试面临的挑战 PAGEREF _Toc388127438 \h 13 HYPERLINK \l _Toc388127439 参考文献 PAGEREF _Toc388127439 \h 14 一、引言 随着经济的发展，人们生活质量的提高，生活中遍布着各类电子消费产品。电脑﹑手机和mp3播放器等电子产品和人们的生活息息相关，这些都为集成电路产业的发展带来了巨大的市场空间。2007年世界半导体营业额高达2.740亿美元，2008世界半导体产业营业额增至2.850亿美元，专家预测今后的几年随着消费的增长，对集成电路的需求必然强劲。因此，世界集成电路产业正在处于高速发展的阶段。 集成电路产业是衡量一个国家综合实力的重要重要指标。而这个庞大的产业主要由集成电路的设计、芯片、封装和测试构成。在这个集成电路生产的整个过程中，集成电路测试是惟一一个贯穿集成电路生产和应用全过程的产业。如：集成电路设计原型的验证测试、晶圆片测试、封装成品测试，只有通过了全部测试合格的集成电路才可能作为合格产品出厂，测试是保证产品质量的重要环节。 集成电路测试是伴随着集成电路的发展而发展的，它为集成电路的进步做出了巨大贡献。我国的集成电路自动测试系统起步较晚，虽有一定的发展，但与国外的同类产品相比技术水平上还有很大的差距，特别是在一些关键技术上难以实现突破。国内使用的高端大型自动测试系统，几乎是被国外产品垄断。市场上各种型号国产集成电路测试，中小规模占到80%。大规模集成电路测试系统由于稳定性、实用性、价格等因素导致没有实用化。大规模/超大规模集成电路测试系统主要依靠进口满足国内的科研、生产与应用测试，我国急需自主创新的大规模集成电路测试技术，因此，本文对集成电路测试技术进行了总结和分析。 二、集成电路测试重要性 随着集成电路应用领域扩大，大量用于各种整机系统中。在系统中集成电路往往作为关键器件使用，其质量和性能的好坏直接影响到了系统稳定性和可靠性。 如何检测故障剔除次品是芯片生产厂商不得不面对的一个问题，良好的测试流程，可以使不良品在投放市场之前就已经被淘汰，这对于提高产品质量，建立生产销