原子力显微镜项目技术参数.doc

供货方案 PAGE1 / =NUMPAGES13-112 一、设备用途原子力显微镜(AFM) 能够在大气环境下，准确地观测材料样品表面微区(纳米及亚微米尺度)三维形貌；同时可以在高分辨成像的同时对样品表面一些物理特性进行研究，包括表面组分区别以及摩擦力的测量。二、仪器的配置及主要技术指标1. 工作环境2.电压：220V ，2000W3. 湿度:15% 到80%4.标准配置5.高速控制器系统 (含高速PC)6.原子力显微镜主机7.扫描器★8.样品直径不小于40mm，高度不小于16mm。★9.样品台Z向移动范围不小于18mm。10.探针支架一组(大气环境实现形貌及物理特性测试要求)11. 光学系统,彩色高分辨CCD系统。12.减震系统（进口气浮防震台，防震频率0.5HZ）13.附件14.工具 1套15.气泵 1个16.耗材17.接触模式探针50只18.轻敲模式探针50只19.配置功能列表20.接触模式（Contact Mode）21 轻敲模式（ Tapping Mode）★22.抬起模式（Lift Mode）23. 相位成像模式（Phase imaging）24.主要性能指标25.扫描器★26.扫描器:XY方向扫描范围不小于90um, Z方向不小于7um 27.扫描器噪音（分辨率）：RMS 0.5 ?