一种双频基片集成波导介电常数测试系统.PDFVIP

第 46 卷第 3 期 应            用            科            技 Vol.46 No.3 2019 年 5 月 Applied  Science  and  Technology May 2019   DOI: 10.11991/yykj.201810008 网络出版地址：/kcms/detail/23.1191.U1128.008.html 一种双频基片集成波导介电常数测试系统 龙卓，刘长军 四川大学 电子信息学院，四川 成都 610064 摘    要：为了同时测量不同频率下的复介电常数，设计了一种基于基片集成波导结构可工作于S和C波段的双频介电常数 测量系统，在2.45和5.85 GHz附近可同时测量待测物的复介电常数。该测试系统的传感器包含2个按对角线级联的正方 形谐振腔、2条测试缝隙以及一段微带馈电耦合结构。2条缝隙的工作波段相互独立，待测物接触传感器表面的2条缝隙 影响系统的谐振频率和品质因数，基于人工神经网络的反演获得待测物复介电常数。仿真数据作为训练人工神经网络的样 本，验证阶段，使用不同浓度的乙醇与水混合溶液检验传感器准确性，与理论值相比，在2.45 GHz时介电常数实部和虚部的 测试结果最大相对误差为1.98%和1.28%，5.85 GHz时分别为2.15%和2.68%，该传感器具有较高的精度及双频测量特性。 关键词：基片集成波导；双频传感器；人工反演网络；复介电常数；微波测量；谐振频率；品质因数；谐振腔 中图分类号：TN972                      文献标志码：A                      文章编号：1009−671X(2019)03−0021−04 A dual-band substrate integrated waveguide permittivity measurement system LONG Zhuo, LIU Changjun School of Electronics and Information Engineering, Sichuan University, Chengdu 610064, China Abstract: In order to measure complex permittivity under different frequencies, a permittivity measurement system is designed to measure complex permittivities at S- and C-band, which is based on a substrate integrated waveguide structure. In the vicinity of 2.45 GHz and 5.85 GHz, the complex permittivities of the object can be measured simultaneously. The sensor of the test system includes two square resonant cavities cascaded diagonally, two test slots and a microstrip feed coupling structure. The working bands of the two slits are independent of each other, and the two slits on the surface of the object to be measured contactin