第五章 光电直接检测系统.pptVIP

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第五章 光电直接检测系统 辨向原理: 用两个光电元件相距B/4安装(相当于相差90°空间角,B: 2π=B/4: π/2),如图所示,可以解决辨向问题。 当条纹上移时,V2落后于V1 90°。 当条纹下移时,V2超前于V1 90°。 因此,由V1、V2之间的相位关系可以 判别运动方向。 细分技术(解决精度问题) 当使用一个光电池通过判断信号周期的方法来进行位移测量时,最小分辨力为1个栅距。为了提高测量的精度,提高分辨力,可使栅距减小,即增加刻线密度。另一种方法是在双光电元件的基础上,经过信号调节环节对信号进行细分,其电路框图如图所示。 莫尔条纹的应用 莫尔条纹测长仪分长光栅和圆光栅两种,光刻密度相同,通常为25,50,100,250条/mm。被广泛地应用于: 光栅数显表 光栅传感器在位置控制中的应用 轴环式数显表 机械测长和数控机床中。 代表性产品: 德国Heidenhain(海德汉): 封闭式:量程3000mm,分辨力0.1 ?m 开放式:量程1440mm,分辨力0.01?m 开放式:量程270mm 分辨力1nm 英国Renishaw(雷尼绍): 量程:任意分辨力: 0.1 ?m 0.01 ?m 中国长春光机所: 量 程:1000mm 分辨力:0.01 ?m * 相干检测, 光源:相干光源 原理:利用光的振幅、频率、相位携带信息, 检测时需要用光波相干原理。 调制方法:光振幅调制、相位调制,频率调制 测量精度(灵敏度)更高,作用距离更远。 非相干检测, 光源:非相干或相干光源 原理:利用光强度携带信息,将光强度转换为 电信号,解调电路检出信息。 调制方法:光强度调制、偏振调制。 直接检测是一种简单实用的方法。 光外差检测 直接检测 光电检测系统 5.1 光电直接检测系统的基本工作原理 光电直接检测系统是将待光信号直接入射到光检测器光敏面上,光检测器响应光辐射强度(幅度)并输出相应的电流和电压。 检测系统经光学天线或直接由检测器接收光信号,前端还可经过频率滤波和空间滤波等处理。 强度 调制器 光学天线 光学通道 接收天线及光电检测器 光电信号处理器 光源 信号 发射机 背景噪声场 接收机 电路噪声 回收的信息 强度调制直接检测模型 5.1 光电直接检测系统的基本工作原理 假定入射光信号电场为: 5-1 光场平均光功率为: 表示 的时间平均值; 5-2 光检测器输出电流为: 称为光电变换比例常数 5-3 光检测器的平方律特性:光电流正比于光电场振幅的平方,电输出功率正比于入射光功率的平方。 5.1 光电直接检测系统的基本工作原理 若光检测器负载电阻RL,则光检测器输出电功率为: 5-4 如果入射光是调幅波,即 其中d(t)为调制信号,可推导出光检测器的输出电流为: 5-5 式中第一项为直流项,若光检测器输出端有隔直电容,则输出光电流只包含第二项,称为包络检测。 5-6 5.2 光电直接检测系统的基本特性 5.2.1 直接检测系统的信噪比—衡量模拟系统好坏及灵敏度 光检测器输出的总功率包括信号电功率和噪声功率,可表示为: 5-7 考虑到信号和噪声的独立性,有: 5-8 由信噪比定义,输出功率信噪比为: 5-9 5.2.1 直接检测系统的信噪比 说明输出信噪比是输入信噪比的平方,可见,直接检测系统不适用于输入信噪比小于1或微弱光信号的检测。 输出信噪比是输入信噪比的一半。即经过光电转换,信噪比损失了3dB。实际应用中可以接受。 可见,直接检测方法不能改善输入信噪比,适宜不是很微弱的光信号检测。但这种方法简单,易于实现,可靠性高,成本低,得到广泛应用。 (1)若 ,则有: 5-10 (2) 若 ,则有: 5-11 在数字式光电系统中,噪声对系统的影响常使用“误码率”来衡量。误码率仍然与信噪比有关。信噪比高,误码率低。由噪声的概率分布规律考虑“概率问题”来衡量。 5.2.2 直接检测系统的检测极限及趋近方法 考虑直接检测系统中存在的所有噪声,则输出噪声总功率为: 分别为信号光、背景光和暗电流引起的散粒噪声。 为负载电阻和放大器的热噪声之和。 5-12 输出信噪比为: 5-13 5.2.2 直接检测系统的检测极限 决定扫描热检测系统的理论极限 ① 当热噪声是直接检测系统 的主要噪声源时,直接检测系统受热噪声限制,信噪比为: 5-14 ② 当散粒噪声远大于热噪声时,直接检测系统受散粒噪声限 制,信噪比为: 5-15 ③ 当背景噪声是直接检测系统的主要噪声源时,直接检测系统 受背景噪声限制,信噪比为: 5-16 5.2.2 直接检测系统的检测极限 假定光波长λ=0.7μm,检测器的

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