第3章 晶体缺陷
前 言
前面章节都是就理想状态的完整晶体而言,即晶体中所有的原子都在各自的平衡位置,处于能量最低状态。然而在实际晶体中原子的排列不可能这样规则和完整,而是或多或少地存在离开理想的区域,出现不完整性。正如我们日常生活中见到玉米棒上玉米粒的分布。通常把这种偏离完整性的区域称为晶体缺陷(crystal defect; crystalline imperfection)。缺陷的产生是与晶体的生成条件、晶体中原子的热运动、对晶体进行的加工过程以及其它因素的作用等有关。但必须指出,缺陷的存在只是晶体中局部的破坏。它只是一个很小的量(这指的是通常的情况)。例如20℃时,Cu的空位浓度为3.8×10-17,充分退火后铁中的位错密度为1012m-2(空位、位错都是以后要介绍的缺陷形态)。所以从占有原子百分数来说,晶体中的缺陷在数量上是微不足道的。但是,晶体缺陷仍可以用相当确切的几何图像来描述。 在晶体中缺陷并不是静止地、稳定不变地存在着,而是随着各种条件的改变而不断变动的。它们可以产生、发展、运动和交互作用,而且能合并消失。晶体缺陷对晶体的许多性能有很大的影响,如电阻上升、磁矫顽力增大、扩散速率加快、抗腐蚀性能下降,特别对塑性、强度、扩散等有着决定性的作用。
20世纪初,X射线衍射方法的应用为金属研究开辟了新天地,使我们的认识深入到原子的水平;到30年代中期,泰勒与伯格斯等奠定了晶
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