高速ADC、DAC测试原理及测试方法.pdfVIP

高速ADC/DAC 测试原理及测试方法 随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高，以及对于系统灵敏度等 要求的不断提高，对于高速、高精度的ADC、DAC 的指标都提出了很高的要求。 比如在移动通信、图像采集等应用领域中，一方面要求ADC 有比较高的采样率以 采集高带宽的输入信号，另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化。因此， 保证ADC/DAC 在高速采样情况下的精度是一个很关键的问题。 ADC/DAC 芯片的性能测 是由芯片生产厂家完成的，需要借助昂贵的半导体 测试仪器，但是对于板级和系统级的设计人员来说，更重要的是如何验证芯片在 板级或系统级应用上的真正性能指标。 一、 ADC 的主要参数 ADC 的主要指标分为静态指标和动态指标2 大类。静态指标主要有： • Differential Non-Linearity (DNL) • Integral Non-Linearity (INL) • Offset Error • Full Scale Gain Error 动态指标主要有： • Total harmonic distortion (THD) • Signal-to-noise plus distortion