第3、4章节微电子集成电路资料.pptVIP

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  • 2019-05-13 发布于湖北
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第3、4章节微电子集成电路资料

集成电路基础工艺与制造工艺 集成电路设计与制造的主要流程框架 集成电路芯片的显微照片 第3章 集成电路工艺简介 图形转换: 光刻:接触光刻、接近光刻、投影光刻、电子束光刻 刻蚀:干法刻蚀、湿法刻蚀 掺杂: 离子注入 退火 扩散 制膜: 氧化:干氧氧化、湿氧氧化等 CVD:APCVD、LPCVD、PECVD PVD:蒸发、溅射 图形转换:光刻 光刻三要素:光刻胶、掩膜版和光刻机 光刻胶又叫光致抗蚀剂,它是由光敏化合物、基体树脂和有机溶剂等混合而成的胶状液体 光刻胶受到特定波长光线的作用后,导致其化学结构发生变化,使光刻胶在某种特定溶液中的溶解特性改变 正胶:分辨率高,在超大规模集成电路工艺中,一般只采用正胶 负胶:分辨率差,适于加工线宽≥3?m的线条 * * 设计 芯片检测 单晶、外延材料 掩膜版 芯片制造过程 封装 测试 系统需求 集成电路的设计过程: 设计创意 + 仿真验证 集成电路芯片设计过程框架 From 吉利久教授 是 功能要求 行为设计(VHDL) 行为仿真 综合、优化——网表 时序仿真 布局布线——版图 后仿真 否 是 否 否 是 Sing off —设计业— —制造业— 芯片制造过程 由氧化、淀积、离子注入或蒸发形成新的薄膜或膜层 曝 光 刻 蚀 硅片 测试和封装 用掩膜版 重复 20-30次

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