原子光谱分析.ppt

原子光譜分析技術 原子光譜 放射光譜 Mo + 熱或電 M* Mo + light 吸收光譜 Mo + light M* Mo + Floresence Na 1s22s22p63s1 原子譜線之寬度 各類原子光譜儀比較 發展現況 火燄式 AA 發展良好 石墨爐AA 發展良好 氫化器 AA/ICP 發展良好且因流動注入系統而 進步中 ICP 發展且進步中 ICP-MS 發展中的新技術 原子光譜儀分析技術比較 分析速度 火燄式 AA 快速 ( 單元素 ) 中等速度 (掃描式多元素) 石墨爐AA 慢速 ( 單元素 ) 中等速度 (掃描式、同步式 多元素) 氫化器 AA/ICP 中等速度 (自動化分析) ICP 中等速度 (掃描式) 快速 (同步式) ICP-MS 快速 原子光譜儀分析技術比較 分析感度 火燄式 AA 中等 石墨爐AA 極佳 氫化器 AA/ICP 極佳; 固定元素 ICP 中等(垂直式觀測) 極佳(水平式觀測) ICP-MS 極佳 原子光譜儀分析技術比較 干擾問題 火燄式 AA 較少；已知問題 石墨爐AA 較多；可以STPF控制 氫化器 AA/ICP 較少；已知問題 ICP 物理；光譜干擾 ICP-MS 較少；質譜重疊 原子光譜儀分析技術比較 成本 火燄式 AA 低至中價位 石墨爐AA 中至高價位 氫化器 AA/ICP 低至中價位 ICP 中至極高價位 ICP-MS 一般來說都很貴 比耳定律 A = a? b? c A = 吸收度 a = 吸收常數 b = 光徑長度 c = 樣品濃度 對已知樣品與特定儀器而言a和b是常數 因此 ： A = k ×c 光源種類 線光源：中空陰極燈Hollow Cathode Lamp 連續光源：氘燈 原子吸收譜線之寬度甚為狹窄，如採用連續光譜作為輻射源時，因單射光器之限制，其有效帶寬遠大於吸收譜線寬，故會形成吸收斜率小、靈敏度差及非線性之標準曲線。故一般均採用線光源 燈管電流之影響 燈管電流大： 光譜變寬 自身吸收 使用時間限縮短 燈管電流小：強度弱 無電極放電燈管EDL LampElectrodeless Discharge Lamp 原子化方式 原子化：將樣品中待測元素轉變為基態原子蒸氣，並對光源發射的光譜產生共振吸收 火焰 電熱式石墨管。 汞：以化學還原的方式產生汞原子 砷、硒：如使用氫化產生器將砷還原成AsH3。 火焰之種類 火焰原子化過程 原子化條件： 火焰類型：氧化、還原、中性（燃料空氣比） 火焰位置（調整燃燒器位置） 火焰原子化器 High Performance NebulizerTypical Detection Limits (3?? 特徵濃度　　Characteristic Concentration (Sensitivity) 定義：樣品產生1﹪(0.0044 吸收度) 吸收時的濃度 特徵濃度 = 0.0044 x 標準品濃度 　標準品吸收度 5 mg/L Fe 標準品產生 0.12 吸收度 特徵濃度(mg/L) = 0.0044abs x 5 mg/L /0.12 特徵濃度= 0.18 mg/L 特徵濃度Characteristic Concentration 用來調校儀器 調整至變異性小於建議值之20% 特徵濃度越低越好 檢核固定條件下儀器表現 偵測極限 定義 通常為雜訊之標準偏差(Std Dev)三倍的濃度 常以空白試液或適當之低濃度標準品為基準 原子吸光法之干擾 化學性干擾 離子化干擾 光譜干擾a.不同元素吸收同一波長之光線 b.背景吸收 分子吸收( Molecular absorption) 散射(Scattering) 物理性干擾 化學性干擾 待測元素與其他元素之間的化學作用而引起的干擾。形成耐火性化合物或低揮發性化合物。 解決方法： 加入釋放劑（realeasing agent）和保護劑 ( protective agent ) 提高火焰溫度或改變火焰狀態 化學分離. 配製與試樣溶液相似組成的標準溶液 離子化干擾（ionization interferences） 待測元素的基態原子在火焰溫度下產生離子化，而使吸收度下降的影響。 解決方法﹕ 控制較低火焰溫度，降低其離子化程度。 在試樣溶液中加入一定量的易游離元素，