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第09章 直接探测和相干探测 9.1 直接探测 9.1 直接探测 光通量的频率测量 第09章 直接探测和相干探测 9.2 相干探测 9.2.1 相干探测的基本原理 9.2.1 相干探测的基本原理 9.2.2 相干探测的条件 当 2．相干探测频率条件 9.2 相干探测 3)波前调制相位与二维干涉图分析 3)波前调制相位与二维干涉图分析 3)波前调制相位与二维干涉图分析 3)波前相位调制与二维干涉图分析 3)波前相位调制与二维干涉图分析 3)波前相位调制与二维干涉图分析 例：阶梯波扫描干涉法 阶梯波扫描时的干涉图： 例 阶梯波扫描干涉法 9-73，9-78式物理意义 如何得到相位分布： 3)波前相位调制与二维干涉图分析 3)波前相位调制与二维干涉图分析 本章小结： 辐通量的变化频率，非光频自身。 频率条件主要表现为单色性。 光外差探测是两束光波迭加后产生干涉的结果。光的单色性就越好，干涉信号越强。 若信号光和本振光的频率相对漂移很大，两者频率之差就有可能大大超过中频滤波器带宽，则光混频器之后的前置放大和中频放大电路对中频信号不能正常地加以放大。 2) 双频激光测长 双频激光干涉仪 频差为1～50MHz， 激光稳频精度为10－8时，测长精度0.1μm 3. 二维干涉图测量 1.激光干涉测量 表面形状分布 二维光强分布 亮条纹 扩束 1.激光干涉测量 压电陶瓷：伸长（缩短）量 Δl = kU －ΔLr 物面凹凸 不平程度 相位分布 基本思路： 亮条纹 二维 干涉图样 1.激光干涉测量 表面形状分布 二维光强分布 亮条纹 动态检测：精度 λ/100 静态检测：精度 λ/20 二次相位调制 1.激光干涉测量 一次相位调制 二次相位调制 1.激光干涉测量 使参考光相位人为地随时间调制 二次相位调制 信号光相位受到被测物理量的调制称为 一次相位调制 二次相位调制的定义 1.激光干涉测量 静止干涉图样 亮条纹 光学相位分布，计算机界面上是一幅静止的画面 ——静态检测 光学相位分布变换为时序电信号相位——动态检测 一次相位调制： 二次相位调制： （照相机） （摄像机） 1.激光干涉测量 3)二维干涉图测量 二次相位调制的实现途径 二次相位调制 移动参考镜 压电陶瓷：伸长（缩短）量 Δl = kU －ΔLr 参考镜 3)二维干涉图测量 干涉图样： 时序信号： t I 3)二维干涉图测量 物面凹凸 不平程度 相位分布 3)二维干涉图测量 基本思路： 亮条纹 二维 干涉图样 只分析一维的情况 干涉面上任一点x的光强度： 将上式看作是φr的余弦函数 I(x, φr)＝as2(x)+ar2+2as(x)arcosφs(x）cosφr +2as(x)arsinφs(x）sinφr 求解φs表达式（1） 3)二维干涉图测量 每次改变1/n周期 采样p个周期 令φr在2π周期内每次改变1/n周期，共采样p个周期，即 求解φs表达式（2） 3)二维干涉图测量 每次光电 测量数值 求解φs表达式（3） 3)二维干涉图测量 求解φs表达式（4） 3)二维干涉图测量 i.干涉面上任意一点x的光强分布都可以展开为参考光相位φr的时序调制，即可将干涉空间图转换为时序信号： ii.被测光信息的相位φs(x)可由下式计算得出，并由此确定面形的凹凸程度： 3)二维干涉图测量 光强空间分布 1024×1024 CCD面阵 光强取样 N X P次 测量 数据平均 计算机 曲线拟合 相位分布 3)二维干涉图测量 干涉图样 亮条纹 －静态检测（精度 λ/20 ） －动态检测（精度 λ/100 ） 一次相位调制： 二次相位调制： 二次相位调制技术为干涉测量开辟了实时、数字式和高分辨率的新途径！！！ 1.激光干涉测量 1.激光干涉测量 一种改进的泰曼-格林干涉仪 双频平面外差干涉测量系统 单频平面干涉 λ/100 双频平面干涉 λ/1000 9.2.3 相干探测的应用举例 2.激光多普勒测速* 3.CO2激光外差通信 1.激光干涉测量 9.2.3 相干探测应用举例 3. CO2激光外差通信 光通信 光纤通信 大气光通信 半导体激光器 强度调制 直接探测 CO