其它仪器分析方法.pptVIP

实验证明，连续X射线的总强度Ix与X射线管内的电流强度i(mA)、电压U(kv)和阳极 材料的原子序数Z有关，即 Ix=AiZU2 式中A为常数。可见，要获得高强度的连续X 射线，必须采用重金属靶(如铜、钼、钨等)、较大的X射线管电流及尽可能高的X射线管电压。在X射线荧光分析中，一般以连续X射线作为激发源，这是因为它的强度是连续分布的，适用于周期表上所有元素的各个谱系的激发。 (二) 特征X射线 当X射线管电压提高到一定的程度(如钼靶在25kv)时，就会在一定的波长处出现强度很大的特征谱线叠加在连续X射线上，即称为特征X射线。 特征X射线波长与入射电子或连续X 射线能量无关，只取决于靶材料。不同元素材料的靶，其原子结构不同，各层电子能量亦不同，因而特征X射线波长各不相同。 二、X射线荧光分析 高能电子撞击原子时，激发原子内层电子跃迁就会产生X射线，这称为初级(一次)X射线。如果以初级X射线为光源去照射激发试样分子或原子，也可以产生次级(二次)X射线，这种二次X射线称作X射线荧光。显然，只有在初级X射线的能量大于试样原子内层电子的激发能时，才能撞击出内层电子，所以产生的X射线荧光的波长总比初级X射线的波长要长。这种方法最大的特点是只产生特征X射线，而不产生连续X射线。产生的X 射线荧光线也就是元素的特征线，这就是X射线荧光分析(X-ray Fluorescence Analysis)的基本原理。 (一)莫斯莱定律 莫斯莱(Moseley)发现，随着元素原子序数Z的增加，X 射线荧光的波长λ有规律地变短，其数学表示式为式中K和S是与线系有关的常数。有式 可知，只要测量出荧光X射线波长，就可以确定元素的种类，这便是成分分析。 (二)X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱仪是通过测量试样的X射线荧光波长以强度来测定物质化学组成的仪器。它有两种类型，即波长色散型和能量色散型。波长色散型X射线荧光光谱仪工作原理是由X光源、准直器、分光晶体和检测器四个主要部分组成，它们分别起激发、准直、色散、检测和显示的作用。 三、X射线衍射分析 X射线衍射分析(X-ray Diffraction Analysis)是基于相干散射线的干涉作用。当两个波长相等、位相差固定、并且振动于同一平面内的相干散射拨沿着同一方向传播时，在不同的位相差条件下，这两种散射波长或者相互加强，或者相互减弱。这种由于大量原子散射拨的相互干涉、叠加而产生的X射线称为X射线衍射。 当X射线以某入射角度射向晶面时，将在每一个点阵(原子)处发生一系列球面散射波，即相干散射，从而发生散射的干涉。设有三个平行晶面，中间晶体的入射X射线与衍射X射线的光程与上面的晶面相比，其光程差为AB+BC，由于 AB=BC=dsinθ 式中，d为晶面间的距离。光波11′和22′的总光程差为 AB+BC=2dsinθ 只有当光程差为波长整数时才能相互加强，则得布拉格(Bragg)衍射方程，即 nλ=2dsinθ 式中n为0,1,2,3, …整数，即衍射级数。根据布拉格衍射方程，在实际工作中，有已知d 的晶体，只要测量θ角，可以计算出特征X射线波长λ，进行元素定性分析，即X射线荧光分析；若用一定波长的X射线照射晶体试样，通过测定θ角，即可计算出晶面间的距离d,从而进行X射线晶体结构分析。 * 第十五章 其它仪器分析方法 /sundae_meng 流 动 注 射 分 析 X 射 线 分 析 热 分 析 拉 曼 光 谱 法 　　流动注射分析(Flow Injection Analysis,FIA)是高度重现的溶液化学处理和各种检测方法相结合的一门技术。优点是仪器简单，可用常规元件自己组装；操作简便，分析速度快；试样和试剂用量少；准确度和精密度好；应用范围广泛。 一、流动注射分析的基本原理 (一)　FIA系统的流路 　　最简单的FIA系统是由蠕动泵、进样阀、反应盘管、检测器、记录仪等组成。 第一节　流动注射分析 基本结构是在封闭的管道中,向连续流动的载液间断地注入一定体积的试样溶液, 或者由进样阀自动注入一定体积的试液.所用的试样体积一般为10～500μL，管道半径为0.5～5mL·min-1。试剂可由另一管路输入，也可作为载流。试剂和试样在反应盘管(反应圈)中混合反应，然后流过检测器被检测。在这个系统中管路长度和内径一定，以准确控制泵速、注入试样，以及控制试剂组成来获得最佳的重现性。 　　 流动注