电荷耦合器件在电子束参数测量中的损伤问题.pdf

第 10 卷 第 2 期 信 息 与 电 子 工 程 Vo1．10，No．2 2012 年 4 月 INFORMATION AND ELECTRONIC ENGINEERING Apr．，2012 文章编号： 1672-2892(2012)02-0217-04 电荷耦合器件在电子束参数测量中的损伤问题 王 远，江孝国，李成刚，禹海军，张开志 ( 中国工程物理研究院 流体物理研究所，四川 绵阳 621900) 摘 要 ：针对直线感应电子加速器(LIA) 实验束参数测量技术应用过程中，电荷耦合器件(CCD) 在纳秒激光辐照下工作的损伤效应方面进行研究。在分析 CCD 感光成像原理及其高能粒子测量应 用的基础上，通过监测这种辐射下 CCD 输出信号的变化和实验后 CCD 的成像，对 CCD 中