GB/T 18735-2014微束分析　分析电镜(AEM/EDS)纳米薄标样通用规范.pdf

ICS 71.040.50 G 04 百目 中华人民共和 国 国彖标准 GB/T 18735—2014 代着 GB/T 18735—2002 微束分析 分析电镜(AEM/EDS) 纳米薄标样通用规范 Microbeam analysis —General guide for the specification of nanometer thin reference materials for analytical transmission electron microscope (AEM/EDS) 2014-07-24 发布 2015-03-01 实施 GB/T 18735—2014 目 次 ,、/d • 、- T 刖B I 引言 n 1范围1 2规范性引用文件1 3 术语和定义 1 4 薄标样的技术要求 2 5 研究材料的检测 3 5.1检测仪器3 5.2 样品台3 5.3 测量条件与方法 3 5.4 薄标样判別依据4 6 标样的分级4 6.1薄标样化学成分的测定 4 6.2 薄标样级別的确定 4 7包装与贮运4 7.1 标样包装 4 7.2 运输 4 7.3保管 5 7.4 标样的有效期 5 参考文献6 GB/T 18735—2014 ■ i r ■ ■ i 刖 吕 本标准按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草。 本标准代替GB/T 18735—2002 《分析电镜（AEM/EDS）纳米薄标样通用规范》。 本标准与GB/T 18735—2002相比主要变化如下： 一中英文名称修改为： “微束分析分析电镜（AEM/EDS）纳米薄标样通用规范”和“Microbea ananlysis —General guide for the specification of nanometer thin reference materials for ana­ lytical transmission electron microscope （AEM/EDS）； ——修改了适用范围的内容 （见第1章）； ——更新和增加了引用标准 （见第2章）； —增加和修改了术语和定义，将公式和原理放在术语下面的注释中进行表述 （见第3章）； ——将 “标样”改为 “薄标样” （见第4章、第5章）； ——修改了薄标样化学定值和薄标样个数的要求 （见4.1 、4.2）； ——增加了对薄标样的厚度要求的说明和计算例证的注释 （见4.3）； ——增加了对薄标样稳定性要求的说明性注释（见4.4）； ——将 “碳膜支持网”修改为 “超薄碳膜支持网” （见4.5）; —增加了 “检测仪器”和样品台”次级标题 （见5.1、5.2）； ——将 “试样”修改为 “研究材料” （见5.1、5.2、5.3.4）； ——增加了分析时常用的几个典型工作电压值（见5.3.1）； -修改了测量样品个数和待测元素X射线强度统计测量的要求 （见5.3.3,5.3.5和5.3.8）； ——增加了比例因子测量时参考元素的说明性注释（见5.3.6）； -修改和增加了比例因子Ka一b的扩展不确定度和不确定度及相应的注释（见5.3.8和5.3.9