GB/T 31359-2015半导体激光器测试方法.pdf

ICS 31.260 L 51 @B 中华人民共和国国彖标准 GB/T 31359—2015 半导体激光器测试方法 Test methods of semiconductor lasers 2015-02-04 发布 2015-08-01 实施 GB/T 31359—2015 目 次 前言m i范 1 2规范性引用文件1 3术语、定义和符号1 3.1 术语和定义1 3.2 符号和单位1 4测试条件及要求 2 4.1环境要求2 4.2测试仪器及计量要求2 4.3 激光安全要求 2 4.4被测产品正常工作要求3 4.5 其他要求3 5 测试方法 3 5.1 输出光功率测试3 5.2平均功率测试 4 5.3 峰值功率测试 4 5.4 脉冲能量测试 6 5.5 输出功率不稳定度测试7 5.6输出能量不稳定度测试8 5.7 工作电流9 5.8 工作电压10 5.9 阈值电流11 5.10 斜率效率12 5.11 电光转换效率 13 5.12波长-温度漂移系数14 5.13 峰值波长15 5.14 谱宽度16 5.15 中心波长16 5.16 偏振度 17 5.17 重复频率18 5.18 脉冲宽度19 5.19 光强分布19 5.20 光束宽度23 5.21 快轴发散角和慢轴发散角 23 5.22 边模抑制比 25 5.23 截止频率26 附录A （资料性附录 ）光强分布举例28 T GB/T 31359—2015 ■ i r ■ ■ i 刖 吕 本标准按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会(SAC/TC 284)归口。 本标准起草单位：西安炬光科技有限公司 、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院半导 体研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、武汉华T正源光子技术有限公司 、中国电子科技集团公司 第十三研究所。 本标准主要起草人：刘兴胜、赵卫、许国栋、张艳春、杨军红、马晓宇、唐琦、吴迪、王贞福、王警卫、 谢彦虎、王家赞、李小宁、史俊红、陈海蓉、仲莉、石朝辉、张恩、许海明、张国新。 m GB/T 31359—2015 半导体激光器测试方法 1范 本标准规定了半导体激光器主要光电参数的测试方法。 本标准适用于半导体激光器主要光电参数的测试 。半导体激光器组件可参考执行。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可