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/design/test-and-measurement/4389588/The-basics-of-testing-op-amps-part-3-br--Configurable-circuit-tests-op-amps 运算放大器测试基础第 3 部分：可配置电路测试运算放大器 作者： Martin Rowe — 2011 年 11 月 16 日 在本系列的 第 1 部分中，我们为大家介绍了三种运算放大器测试电路：自测试电路、双运算放大器环路以及三运算放大器环路。这些电路有助于测试失调电压 (VOS)、共模抑制比 (CMRR)、电源抑制比 (PSSR) 以及放大器开环增益 (Aol)。在 第 2 部分中，我们集中介绍了输入偏置电流测量。现在，我们将介绍适用于自测试电路与双运算放大器测试电路的电路配置。这两种电路可通过不同的继电器配置存在于同一款电路设计中。该电路有助于您使用任何最佳方法测试给定运算放大器。图 1 至图 13 是基本组合电路。图中说明了如何通过打开和关闭继电器来选择所需的测试。图 1 是整体测试电路。在图 2 至图 13 中，信号路径以红色显示，以便与前两篇文章中所介绍的方法进行比较。 图 1.该电路整合了用于测试运算放大器的自测试电路及双运算放大器环路。 点击图片放大。 电压失调测量（双放大器环路）在图中所示的 K22 配置下，环