实验七 炉温控制实验.docVIP

1312441525 陈思华 实验七 炉温控制实验 一．实验目的 了解温度控制系统的特点。 研究采样周期T对系统特性的影响。 研究大时间常数系统PID控制器的参数的整定方法。 二．实验仪器 EL-AT-III型计算机控制系统实验箱一台。 PC计算机一台。 炉温控制实验对象一台。 三．炉温控制的基本原理 系统结构图示于图7-1。 图中 Gc(s)=Kp(1+Ki/s+Kds) Gh(s)=(1-e-TS)/s Gp(s)=1/(Ts+1) 系统的基本工作原理 整个炉温控制系统由两大部分组成，第一部分由计算机和A/DD/A卡组成，主要完成温度采集、PID运算、产生控制可控硅的触发脉冲，第二部分由传感器信号放大，同步脉冲形成，以及触发脉冲放大等组成。炉温控制的基本原理是：改变可控硅的导通角即改变电热炉加热丝两端的有效电压，有效电压的可在0~140V内变化，可控硅的导通角为0~5CH。温度传感器是通过一只热敏电阻及放大电路组成的，温度越高其输出电压越小。 外部LED灯的亮灭表示可控硅的导通与闭合的占空比时间，如果炉温温度低于设定值则可控硅导通，系统加热，否则系统停止加热，炉温自然冷却到设定值。 第二部分电路原理图见附录一。 PID递推算法： 如果PID调节器输入信号为e(t)，其输送信号为u(t)，则离散的递推算法如下：U