高分子电気绝縁材料电特性计测用劣化诊断.pptVIP

高分子電気絶縁材料の誘電特性計測を用いた劣化診断に関する研究 所　研究室 13S06　片山　祐輔 平成15年　2月13日 目的 高電界誘電特性測定システムを用いて、試料の誘電特性を測定する 誘電特性の測定方法 試料片側表面から誘電特性を測定する 試料の劣化診断方法 くし形電極を用いて、水浸劣化過程における試料の吸水劣化現象を、試料片側表面から劣化診断を行なう。 実験方法 試料上の電極と水滴の様子 実験結果 図1　水浸過程と乾燥過程の重量変化 図2　水浸劣化過程とIxrの関係（水滴無しの状態） 図3　水浸劣化過程とIxrの関係（水滴3個を設置した状態） 直流重畳電圧波形を用いた劣化診断 直流重畳電圧波形の模式図 図4　直流重畳電圧波形の解析結果 直流重畳電圧波形を用いた測定 図5　試料Aと試料Bの比較（水滴を設置しない状態で測定した結果） 図6　試料AのIxrの測定結果（試料Aに水滴を3個設置） 図7　試料BのIxrの測定結果（試料A：水滴3個　試料B：水滴1個） 図8　試料BのIxrの測定結果（水滴1個と3個の測定結果） まとめ くし形電極を用いることにより、試料片側表面から吸水劣化現象を評価することが可能となった。 水滴を設置した状態の損失電流Ixrの検出結果から、試料表面の撥水性を評価できることが示唆される。 水滴を設置した時の、直流重畳電圧分に依存した誘電特性の