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- 约6.45千字
- 约 18页
- 2019-07-05 发布于湖北
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试卷结构:
一、选择题(每小题2分,共30分)
二、填空题(每空2分,共20分)
三、简答题(每小题10分,共20分)
四、证明题(10分)(第六章)
五、计算题(20分)(第五章)
§1.1 锗和硅的晶体结构特征 金刚石结构的基本特征(重点)
§1.2 半导体中的电子状态和能带
电子共有化运动概念:原子组成晶体后,由于电子壳层的交叠,电子不再完全局限在某一个原子上,可以由一个原子转移到相邻的原子上去,因而,电子将可以在整个晶体中运动,这种运动称为电子的共有化运动。
绝缘体、半导体和导体的能带特征:
几种常用半导体的禁带宽度:硅1.12eV,锗0.67eV,砷化镓1.43eV
本征激发的概念:价带上的电子激发成为准自由电子,即价带电子激发成为导带电子的过程,称为本征激发。
§1.3 半导体中电子的运动 有效质量
导带底和价带顶附近的E(k)~k关系:;
半导体中电子的平均速度:;
有效质量的公式:。
窄带、宽带与有效质量大小关系:窄大宽小
§1.4本征半导体的导电机构 空穴
空穴的特征:带正电;;;
§1.6 硅和锗的能带结构
硅和锗的能带结构特征:(1)导带结构:导带底的吸收峰位置、个数;(2)价带结构:价带顶的位置,重空穴带、轻空穴带以及自旋-轨道耦合分裂出来的能带。
硅和锗是间接带隙半导体
§2.1 硅、锗晶体中的杂质能级
施主杂质:V族杂质在硅、锗中电离时,能够释
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