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在进行扫描时可以先选取一组定义横轴，然后其它各族均采用相同的坐标系从而在同一平面上画出不同参数对系统稳态响应当影响。 性能分析 对于扫描结果， 可以进行性能分析。 其步骤如下： 1.在PROBE窗口 中，选择TRACE即 分析种类； 2. 选择 Perfoemance 3.Wizard（功能） 4.目标函数 （GOAL FUNCTION） 5. Search trace （对象） 6. 显示曲线。给出器件在回路电感不同时所承受的峰值电压的大小，如与其他分析结合可优化系统参数。 Wizard 蒙特卡洛和最坏条件分析 二者的目的均是利用统计方法分析器件误差对电路特性的影响程度，worst (WC)分析是对电路进行灵敏度和最坏条件分析，即找出使输出信号偏差最大的元件值；而monte carlo (MC)分析则是在误差范围中以随机取样的方式就元件误差对电路特性的影响进行统计分析, 以优化参数。其中第一次运行用标称值仿真，其后根据各个器件参数的容差规定随机选取在限度内偏离标称值的不同值进行运算；并将各次结果与标称结果进行比较，得到元器件容差引起的输出结果偏离的统计分析。 蒙特卡洛分析： 在元件误差范围中随机变化元件的参数，然后将系统的响应记录下来，进行分析，次数可由用户定义，但第一次是采用标